声学显微术是一种先进的无损分析方法,它利用超高频的超声波获得物体内部和外部的高分辨率图像。通过捕捉通过物体的声波(穿透模式)或从物体反射回去的声波(反射模式),并将这些声音信号转化为数字信号,可以获得图像。声学显微术还可以显示物体内部结构和缺陷。 无损检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷(裂纹、...
所谓元器件的失效原因，是指导致失效发生的直接因素，它包括设计 、制造、使用和管理等方面的问题 。元器件失效的原因大致可分为元器件自身的失效和元器件使用不当引起的失效。元器件失效分析的一般程序 由于失效样 品数量极少，一般都是经过长期试验或使用后获得 ，且失效样品中包含重要信息 ，而失效分析过程大都具有...
电子元器件失效是指其功能完全或部分丧失、参数漂移,或间歇性地出现上述情况。电子元器件分析是对已失效元器件进行的一种事后检查。根据需要,使用电测试及必要的物理、金相和化学分析技术,验证所报告的失效,确认其失效模式,找出失效机理。 主要分析对象包括电阻器、电容器、电感器、连接器、继电器、变压等原件,二极管、...
半导体器件失效分析就是通过对失效器件进行各种测试和物理、化学、金相试验，确定器件失效的形式(失效模式)，分析造成器件失效的物理和化学过程(失效机理)，寻找器件失效原因，制订纠正和改进措施。加强半导体器件的失效分析，提高它的固有可靠性和使用可靠性，是改进电子产品质量最积极、最根本的办法，对提高整机可靠性有着...
电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情,比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间,有时甚至...
电子元器件失效是指其功能完全或部分丧失、参数漂移,或间歇性地出现上述情况。电子元器件分析是对已失效元器件进行的一种事后检查。根据需要,使用电测试及必要的物理、金相和化学分析技术,验证所报告的失效,确认其失效模式,找出失效机理。 主要分析对象包括电阻器、电容器、电感器、连接器、继电器、变压等原件,二极管、...
半导体器件失效分析就是通过对失效器件进行各种测试和物理、化学、金相试验，确定器件失效的形式(失效模式)，分析造成器件失效的物理和化学过程(失效机理)，寻找器件失效原因，制订纠正和改进措施。加强半导体器件的失效分析，提高它的固有可靠性和使用可靠性，是改进电子产品质量最积极、最根本的办法，对提高整机可靠性有着...
电子元器件失效是指其功能完全或部分丧失、参数漂移,或间歇性地出现上述情况。电子元器件分析是对已失效元器件进行的一种事后检查。根据需要,使用电测试及必要的物理、金相和化学分析技术,验证所报告的失效,确认其失效模式,找出失效机理。 主要分析对象包括电阻器、电容器、电感器、连接器、继电器、变压等原件,二极管、...
电子元器件在诞生时就会承受各种应力，最终会因某种原因而失效。为了分析失效现象，人们采用物理、化学方法，提供失效物理模型以便理解失效机理。金鉴实验室拥有先进的测试设备和专业的技术团队，能够确保测试的准确性和可靠性，为集成电路、PCB/PCBA、电子辅料等提供全面的性能检测、可靠性验证和失效分析服务，并根据不同...
电子元器件失效分析是借助各种测试分析技术和分析程序确认电子元器件的失效现象,分辩其失效模式和失效机理,并最终确认其失效原因。 提出改善设计和制造工艺的建议,防止失效的重复出现,提高元器件的可靠性。 电子元器件失效分析项目 1、元器件类失效 电感、电阻、电容:开裂、破裂、裂纹、参数变化 2、器件/模块失效 ...