(2)excel里的数据是每个元素每个出峰点的具体数据以及测试参数清单 (可由Avantage软件导出): - O1s Scan和C1s Scan工作簿对应每个元素的具体数据; - XPS Survey工作簿指的是全谱图的具体数据;- Peak Table工作簿指的是从全谱图中得到的每个元素的具体参数,包括元素结合能、半高宽、积分面积以及相对原子含量等参...
(2)excel里的数据是每个元素每个出峰点的具体数据以及测试参数清单 (可由Avantage软件导出): - O1s Scan和C1s Scan工作簿对应每个元素的具体数据; - XPS Survey工作簿指的是全谱图的具体数据;- Peak Table工作簿指的是从全谱图中得到的每个元素的具体参数,包括元素结合能、半高宽、积分面积以及相对原子含量等参...
解析XPS定性分析的步骤推理过程:1. **样品制备与清洁**:必须去除表面污染物以避免干扰谱峰,常用氩离子溅射或溶剂清洗;2. **宽扫描(Survey Scan)**:先用低分辨率宽范围扫描确定样品存在的所有元素(检测限通常>0.1at%);3. **高分辨扫描(High-resolution Scan)**:针对关键元素的特征峰(如C 1s、O 1s等)精细...
(2)excel里的数据是每个元素每个出峰点的具体数据以及测试参数清单 (可由Avantage软件导出): - O1s Scan和C1s Scan工作簿对应每个元素的具体数据; - XPS Survey工作簿指的是全谱图的具体数据; - Peak Table工作簿指的是从全谱图中得到的每个元素的具体参数,包括元素结合能、半高宽、积分面积以及相对原子含量等...
1.表面污染/变色之成份分析(SurfaceSurvey) : 样品表面100A以内的成份分析。 2.表面化学组态分析(Narrow Scan) : 样品表面100A以内的元素化学组态键结分析。 3.样品氧化状况(氧化层厚度及氧化态)分析。 4.多层薄膜纵深分析(Depth Profile) : 藉由Ar 离子溅蚀样品的表面,得到不同深度的元素信号之纵深分布。
**全谱扫描(Survey Scan)**:显示样品中所有可检测到的元素及其相对丰度。通常用于快速识别样品中的主要元素成分。 2. **高分辨扫描(High Resolution Scan)**:针对特定元素进行精细扫描,以获得该元素的详细化学状态信息。高分辨扫描曲线通常包括主峰和可能的卫星峰或伴峰。 三、XPS曲线的分析方法 1. **元素识别*...
全扫描谱(Survey scan):扫描能量范围宽 (01100eV),灵敏度高(分辨力低),元素鉴别。 高分辨谱(Detail scan):扫描能量范围窄(20eV左 右),分辨力高,主要用于元素化学态分析。 4.0、XPS谱图的形式 在XPS谱图中可观察到多种类型的谱峰。 一部分是基本的并总可观察到—初级结构 另一些依赖...
表面汙染/變色之成份分析(Surface Survey) : 樣品表面100A以內的成份分析。如PCB finger 汙染變色。 表面化學組態分析 (Narrow Scan) : 樣品表面100A以內的元素化學組態鍵結分析。 樣品氧化狀況(氧化層厚度及氧化態)分析。如Metal film 表面氧化態。 多層薄膜縱深分析 (Depth Profile) : 藉由Ar 離子濺蝕樣品的表...
XPS标准谱图手册和数据库标准谱图手册和数据库(1).全谱扫描全谱扫描(Survey scan)对于一个化学成分未知的样品首先应作全谱扫描,以初步判定表面的化对于一个化学成分未知的样品首先应作全谱扫描,以初步判定表面的化学成分。在作学成分。在作XPS分析时,全谱能量扫描范围一般取 20、分析时,全谱能量扫描范围一般取0...
XPS仪器介绍分析 第二部分 X射线光电子能谱实验技术 ••••样品的制备离子束溅射技术样品的荷电及消除能量刻度标定 5.1样品的制备 •X射线光电子能谱仪对分析的样品有特殊的要求，在通常情况下只能对固体样品进行分析。•由于涉及到样品在超高真空体系中的传递和分析，待分析的样品一般都需要经过一定的...