通过本次网络研讨会，我们不仅加深了对FIB-SEM和ToF-SIMS联用技术在锂电池表征中应用的理解，还探讨了如何克服实验中的挑战，提高分析的准确性和效率。错过研讨会的朋友们，希望这些精彩问答能为您带来启发。同时，我们也期待在下一次网络研讨会中，继续探讨利用电子显微镜和显微CT技术应对锂电池研发和生产中的挑战。本...
在2024年2月16日举办的网络研讨会上,TESCAN(中文名:泰思肯)集团的Tomáš Šamořil博士为我们展示了如何通过FIB-SEM与ToF-SIMS的联用技术,深入探索锂电池表征微观世界。这一技术结合了高分辨率成像与化学分…
在2024年2月16日举办的网络研讨会上,TESCAN(中文名:泰思肯)集团的Tomáš Šamořil博士为我们展示了如何通过FIB-SEM与ToF-SIMS的联用技术,深入探索锂电池表征微观世界。这一技术结合了高分辨率成像与化学分析的优势,为电池研究领域带来了新的突破。感谢每一位参与者的热情参与和深入讨论,使得这次研讨会取得了巨大...
FIB-SEM 二次电子分辨率:0.9nm@15kV;1.4nm@1kV 聚焦离子束:分辨率:< 2.5nm@30kV 探针电流:1pA - 100nA 放大倍率:2 × -2000000 × TOF-SIMS 元素检测下限:5ppm 空间分辨率:水平方向40nm;垂直方向>3nm 质量数范围:1-2500 Raman 激光波长:532nm、785nm 共聚焦分辨率:XY方向360nm;Z方向2000nm ...
格雷弗工业装备(苏州)有限公司主要致力于“TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 ”的生产销售。多年的“TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 ”生产与销售的经验,与各行业新老用户建立了稳定的合作关系,我公司经营的产品名称深受广大用户信赖。欢迎来电咨
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 tel: 400-6699-117转5963 泰思肯二次离子质谱/离子探针, TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D... 在线客服 质量分辨率: >800 质量分析范围:1-2500 ...
TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息,高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等,并可以进行原位 FIB 深度分析。飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS)TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有极高分辨率的...
TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息,高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等,并可以进行原位 FIB 深度分析。飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS) TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有极高分辨率的...
质量分辨率:>800质量分析范围:1-2500原始束流或速能量:30kV仪器种类:飞行时间TESCAN电镜质谱FIB-SEM-TOF-SIMS联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中最重要的一环 详细介绍 质量分辨率:>800 质量分析范围:1-2500 原始束流或速能量:30 kV 仪器种类:飞行时间 TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统...
目前,TESCAN FIB-SEM-Tof-sims新型联用分析技术已成为锂离子电池材料研究的利器,在国际上,已经有多个课题组采用该项分析技术进行了相关研究,并在多种期刊发表了高水平文章。 在上述工作中,刘河洲教授团队使用的是安装在上海交通大学分析测试中心的TESCAN MIRA高分辨场发射扫描电子显微镜及TESCAN 双束电镜与飞行时间二次...