在2024年2月16日举办的网络研讨会上，TESCAN（中文名：泰思肯）集团的Tomáš Šamořil博士为我们展示了如何通过FIB-SEM与ToF-SIMS的联用技术，深入探索锂电池表征微观世界。这一技术结合了高分辨率成像与化学分析的优势，为电池研究领域带来了新的突破。感谢每一位参与者的热情参与和深入讨论，使得这次研讨会取得...
在2024年2月16日举办的网络研讨会上,TESCAN(中文名:泰思肯)集团的Tomáš Šamořil博士为我们展示了如何通过FIB-SEM与ToF-SIMS的联用技术,深入探索锂电池表征微观世界。这一技术结合了高分辨率成像与化学分…
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中zei重要的一环,而元素分析是其中zei重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足,例如因灵敏度不足、空间分辨率较差,无法进行轻元素、微量元素的分析,无法分辨同位素等等,普通的分析手段已不能满足现阶段应用的...
TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D 化学表征和分子信息,高离子质量分辨率和高空间分辨率成像等,并可以进行原位 FIB 深度分析。飞行时间-二次离子质谱(TOF-SIMS)TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有极高分辨率的...
产品名称:TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 产品型号: 产品厂商:泰思肯 产品文档: 简单介绍 格雷弗工业装备(苏州)有限公司—原厂货源,售后完备,阳光采购,送货上门。电子显微分析是材料和生命科学微观分析中*重要的一环,而元素分析是其中*重要的表征手段之一,但标准的分析手段如能谱仪和波谱仪存在很多不足...
在2024年2月16日举办的网络研讨会上,TESCAN(中文名:泰思肯)集团的Tomáš Šamořil博士为我们展示了如何通过FIB-SEM与ToF-SIMS的联用技术,深入探索锂电池表征微观世界。这一技术结合了高分辨率成像与化学分析的优势,为电池研究领域带来了新的突破。感谢每一位参与者的热情参与和深入讨论,使得这次研讨会取得了巨大...
当然,电池的微观分析检测技术也在不断的发展和创新,TESCAN锂离子电池微分析综合解决方案,在传统的利用扫描电子显微镜进行微观形貌的观测基础上,引入了创新的扫描电镜-拉曼一体化技术(SEM-Raman) 以及聚焦离子束双束扫描电镜-飞行时间二次离子质谱一体化技术(FIB-SEM-TOF-SIMS),实现了原位二维、三维的高分辨形貌结构观测...
TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统 tel: 400-6699-117转5963 泰思肯二次离子质谱/离子探针, TESCAN 提供的解决方案是将飞行时间二次离子质谱与 FIB-SEM 系统集成。这种组合能够为用户提供固体材料的 3D... 在线客服 质量分辨率: >800 质量分析范围:1-2500 ...
FIB—SEM—TOF-SIMS一体化系统的重要用户,在铀矿物质谱成像分析等方面做了大量实验和研究,在此次无机和同位素质谱会议上,核工业北京地质院郭冬发研究员也提到,目前质谱成像(MSI)仪器主要有LA-ICP-MS、FIB-SEM,LG–SIMS,其中LG–SIMS MSI更适用于点成像,LA-ICP-MS MSI更适用于元素成像,FIB-SEM-TOF-SIMS MSI更...
质量分辨率:>800质量分析范围:1-2500原始束流或速能量:30kV仪器种类:飞行时间TESCAN电镜质谱FIB-SEM-TOF-SIMS联用系统电子显微分析是材料和生命科学微观分析中最重要的一环 详细介绍 质量分辨率:>800 质量分析范围:1-2500 原始束流或速能量:30 kV 仪器种类:飞行时间 TESCAN 电镜质谱 FIB-SEM-TOF-SIMS 联用系统...