Here, we review the emerging FIBSIMS technique which exploits the focused ion beam as an analytical probe, providing the capability to perform secondary ion mass spectrometry measurements on FIBSEM instruments: secondary ions, sputtered by the FIB, are collected and selected according to their mass ...
FIB-TOF-SIMS联用技术在矿物学研究中的应用 王涛;葛祥坤;范光;郭冬发 【摘要】基于聚焦离子束扫描电子显微镜的飞行时间二次离子质谱联用技术同时具备了聚焦离子束高空间分辨率以及飞行时间二次离子质谱轻元素、同位素分析以及较低的元素检出限的优势.可以实现:扫描电镜下原位分析H、Li、Be、B等轻元素;元素分布的纳米...
10.一种用于FIB-SIMS互联实验的方法,其特征在于,利用权利要求9所述的设备进行如下的所述方法: 在所述承载装置的承载面上放置样品,并将所述承载装置的承载面调整为倾斜状态; 将承载有样品的所述承载装置放置于所述FIB真空测试室内,以进行FIB测试; 通过所述真空送样管道将进行完FIB测试的承载有样品的所述承载装置...
FIB-TOF功能介绍 PHI nanoTOF仪器可以通过FIB-TOF来实现截面样品的制备和化学分析,有以下两种方法:方法一:PHI nanoTOF仪器利用配备的Ga源FIB配件进行FIB处理。经过Ga源进行精确的FIB加工后,随后直接进行TOF-SIMS分析(见图1a)。值得一提的是,在Ga源进行FIB加工时,还能获取FIB加工区域的3D影像;此外,Ga源还可以作为...
SEM-FIB-Raman-TOF-SIMS原位分析平台 主要应用 可用于金属、无机非金属、陶瓷、高分子、生物、碳材料、锂电池、矿物等各类样品的微观形貌观察和成分分析,可以进行微纳米尺度加工(切割、焊接、沉积等),以及金属的晶相、碳元素的各种同素异构体的物相分析等。
(FIB- TOF-SIMS)分析了富锂黏土岩微米尺度上的元素分布特征.结果表明,龙潭组下部黏土岩中富集Li以及Ga,Nb等元素,是一个多种关键金属的富集层,具有良好的成矿... 郝雪峰,唐屹,潘蒙,... - 《地质学报》 被引量: 0发表: 2024年 两种小分子有机抑制剂的合成及其作用机理研究 单矿物和人工混合矿浮选试验,考察...
材料剖析方法-材料膜层内夹杂物或缺陷表征-FIB+EDS-AES-TOF-SIMS的应用。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、 - 探究号科技于20230901发布在抖音,已经收获了1017个喜欢,来抖音,记录美好生活!
XPS测试-文章中常见错误11-XPS图谱能量方向和术语表达 我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴可以参考我们新出的书《X...
技术参数 FIB-SEM 二次电子分辨率:0.9nm@15kV;1.4nm@1kV 聚焦离子束:分辨率:< 2.5nm@30kV 探针电流:1pA - 100nA 放大倍率:2 × -2000000 × TOF-SIMS 元素检测下限:5ppm 空间分辨率:水平方向40nm;垂直方向>3nm 质量数范围:1-2500 Raman
电镜原位等离子体清洁器EM-KLEEN可用于电子显微镜和分析仪器(如SEM、FIB、TEM、XPS和SIMS)的样品和真空室的原位清洁。它可以有效去除高真空或超高真空室内的碳氢化合物和氟碳化合物污染,提高***终真空水平,减少泵停机时间。它还可以在表面成像和分析之前去除样品表面的有机污染物。