高分辨透射电子显微镜(TEM)JEM-2100F 产品介绍: 品牌:日本 JEOL 型号:JEM-2100F 仪器用途: JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 产品特点: 高亮度场发射...
该仪器将各种透射电镜技术(包括TEM、EFTEM、STEM、EDS/EELS频谱成像等)进行方便灵活地有机组合,形成了强大的分析功能,从而在同类型仪器中独占鳌头。除具有200KV的各种优点外,Tecnai G2 F30提供了300KV的加速电压,可分析更厚、更具挑战性的样品。同时,该仪器使用户可以在原子尺寸的分辨率下进行高质量、高稳定性的...
设备型号:JEM-2100F 设备厂商:日本JEOL用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分技术参数1.点分辨率0.19nm 2.线分辨率0.14nm 3.加速电压:80,100,120,160,200kV 4.倾斜角25° 5.STEM分辨率0.20nm 6.最大放大倍数150万倍; 7.HAADF探头; 8.单、双倾样品台; 9.日本JEOL公司的电冷 100 mm2 EDS; 10.美国...
JEM-2100F场发射透射电镜使用电子穿透样品成像,实际上入射电子在穿越样品时会与样品发生复杂的相互作用,如果使用全部的透射电子成像,必然在细节上出现假象、失真甚至某些信息被掩盖,利用透射电镜明场、暗场、电子衍射和高分辨成像技术分析各种无机、有机及复合材料的精细结构,同时配有STEM和能谱附件分析样品的成分及分布情...
我们以多壁碳纳米管为标样，用透射电镜JEM-2100F观察的10K，50K，800K倍率下的碳纳米管，可以看出应用碳支持膜负载碳纳米管在透射电镜下可实现从低倍至高倍的观察，但是在高分辨观察时，碳颗粒本身的衬度对于碳纳米管的高分辨结构有较大的影响。3)微栅膜：为了解决碳支持膜在高分辨观察时的背底问题，可在支持...
日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-ARM200F 中文简称透射电镜 英文简称TEM 产地日本 上市时间2009年3月25日JEM-2100F 场发射透射电子显微镜 咨询 日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-2100F 中文简称透射电子显微镜 英文简称JEM-2100F TEM 产地日本 上市时间2003年10月29日JEM...
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数103188次 服务周期收到样品后平均3.0-7.6工作日完成 立即预约 部分论文致谢 申请用户 高校 下单项目 影响因子 期刊名称 奖励现金 申请时间 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 ...
JEM2100F操作注意事项: 1.抽拔样品杆时置KV档,抽真空<2×10-5Pa才可以开beam阀。 2.抽拔样品杆1)先置KV档 2)将样品杆归零(如果是双倾台,拔下Y线) 3)抽拔样品杆到不能动位置向内旋置顶端再抽拔一次再旋置顶端 4)真空开关调下,听到放气声再全部拔出。
我们以多壁碳纳米管为标样,用透射电镜JEM-2100F观察的10K,50K,800K倍率下的碳纳米管,可以看出应用碳支持膜负载碳纳米管在透射电镜下可实现从低倍至高倍的观察,但是在高分辨观察时,碳颗粒本身的衬度对于碳纳米管的高分辨结构有较大的影响。 3)微栅膜:为了解决碳支持膜在高分辨观察时的背底问题,可在支持膜上...
我们以多壁碳纳米管为标样,用透射电镜JEM-2100F观察的10K,50K,800K倍率下的碳纳米管,可以看出应用碳支持膜负载碳纳米管在透射电镜下可实现从低倍至高倍的观察,但是在高分辨观察时,碳颗粒本身的衬度对于碳纳米管的高分辨结构有较大的影响。 3)微栅膜:为了解决碳支持膜在高分辨观察时的背底问题,可在支持膜上...