JEOL JEM-2100F 透射电子显微镜安全操作手册说明书 JEOL JEM-2100F Transmission Electron Microscope 1)Operator Safety:a.Careful when loading the system to avoid pinches to hands and fingers.b.Do not enter the area behind the system to avoid tripping over cables and damaging system facilities.c....
Introduced ultrahigh resolution TEM – JEM-2100F ColdSpray ionization source introduced for AccuTOF MS New CD Metrology Software announced for JEOL SEMs New SPM introduced for native environment imaging – JSPM-5200 JEOL Ltd. ISO 14001 certified Direct Analysis in Real Time (DART™) submitted fo...
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JEOL’s information. JEOL is a global leader in TEM, SEM, NMR, MS and other.scientific/medical/semiconductor/industrial instruments.
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