JEM-2100Plus高度稳定性的测角台设计先进,非常适于包括3位重构在内的样品台倾斜。选用日本电子专用软件,可以轻松实现3D观察。 压电陶瓷控制样品台也独步天下。 The JEM-2100Plus采用3级聚光镜设计在任何束斑尺寸下都可以提供高亮度电子束,大大提高了分析和衍射成像能力。
型号 JEM-2100Plus 加工定制 否 是否进口 是 点分辨率 0.194nm 线分辨率 0.14nm 加速电压 200KV MAG模式 x 2,000 – 1,500,000 Low MAG模式 x 30 – 6,000 SA MAG模式 x 8,000 – 800,000 倍率(STEM) x 2,000 – 2,000,000 高分辨HR 0.23nm 高倾斜HT 0.25nm 冷冻传输CR 0.27...
日本电子JEOL透射电子显微镜 JEM-2100Plus ,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了Z新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越,操作方便,简明易懂,在材料、医学、生物学等多个研究领域提供优异的解决方案。
1、生物学(细胞和组织的超微结构观察、细胞器的定位和形态分析、病毒和细菌的观察等);2、纳米技术(纳米材料的形貌和尺寸分析);3、界面和表面科学(材料表面的成分分析、表面形貌和结构的观察、界面反应和相互作用的研究等)。 JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜技术参数: JEOL JEM-2100Plus透射电子显微镜使用方法: 样品...
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[3]资料来源:产品手册JEM-3300 CRYO ARM(TM) 300 II Field Emission Cryo-Electron Microscope (http://jeol.com) [4] JEM-2100Plus Electron Microscope (http://jeol.co.jp) 声明:以上根据公开资料整理。如有遗漏,欢迎留言补充。 作者:武瑾嵘
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