高分辨透射电子显微镜(TEM)JEM-2100F 产品介绍: 品牌:日本 JEOL 型号:JEM-2100F 仪器用途: JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 产品特点: 高亮度场发射...
设备型号:JEM-2100F 设备厂商:日本JEOL用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分技术参数1.点分辨率0.19nm 2.线分辨率0.14nm 3.加速电压:80,100,120,160,200kV 4.倾斜角25° 5.STEM分辨率0.20nm 6.最大放大倍数150万倍; 7.HAADF探头; 8.单、双倾样品台; 9.日本JEOL公司的电冷 100 mm2 EDS; 10.美国...
如图1所用的JEOL JEM-2100F透射电子显微镜,其放大倍数极限与市面上常见的球差电镜类同,能够达到1500 k倍,然而其分辨率仅为0.19 nm,不同原子等的成像无明显区别,无法如球差电镜的结果图一样实现原子级的分辨能力。 3 电镜照片处理的常用软件 遵从基本原理,只要能够测量长度的方式均能对电镜照片进行后处理分析,...
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数103188次 服务周期收到样品后平均3.0-7.6工作日完成 立即预约 部分论文致谢 申请用户 高校 下单项目 影响因子 期刊名称 奖励现金 申请时间 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 ...
JEOL JEM-2100F 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 100 mm2x 2 Solid angle: 1.7 其他功能Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像TEM resolution: 0.1nm ...
日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-ARM200F 中文简称透射电镜 英文简称TEM 产地日本 上市时间2009年3月25日JEM-2100F 场发射透射电子显微镜 咨询 日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-2100F 中文简称透射电子显微镜 英文简称JEM-2100F TEM 产地日本 上市时间2003年10月29日JEM...
JEOL JEM-2100F 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDS Detector: SDD 100 mm2 x 2 Solid angle: 1.7 其他功能 Strain mapping 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像 TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDS...
日本电子 JEOL 透射电镜 TEM JEM-2100Plus 六硼化镧 进口 ￥250.00万 查看详情 德国蔡司ZEISS 扫描电镜 SEM 六硼化镧灯丝高分辨率 EVO10 进口 ￥100.00万 查看详情 德国 布鲁克红外光谱仪 INVENIO 傅立叶变换FTIR 研究级 进口 ￥28.00万 本店由中国供应商运营支持 获取底价 商品描述 价格说明 联系我们 型...
JEOL JEM-2100F 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 100 mm2x 2 Solid angle: 1.7 其他功能Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像TEM resolution: 0.1nm ...
FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X 透射电镜测试样品需求 粉体需5mg左右,无磁性单颗粉末尺寸小于1μm; 液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄; (浓度有特殊要求请备),可以自己制样。