高分辨透射电子显微镜(TEM)JEM-2100F 产品介绍: 品牌:日本 JEOL 型号:JEM-2100F 仪器用途: JEM-2100F 应用广泛,从材料科学、生命科学、医疗、制药、半导体到纳米技术。 利用200kV场发射透射电镜JEM-2100F,不仅可实现超高分辨率图像的观察,同时,还可以得到纳米尺度的结构、成分等信息。 产品特点: 高亮度场发射...
设备型号:JEM-2100F 设备厂商:日本JEOL 用途:用于观察材料的微观形貌结构和成分 技术参数 1.点分辨率0.19nm 2.线分辨率0.14nm 3.加速电压:80,100,120,160,200kV 4.倾斜角25° 5.STEM分辨率0.20nm 6.最大放大倍数150万倍; 7.HAADF探头; 8.单、双倾样品台; ...
因而不同电镜在相同放大倍数下的成像质量和代表的信号等并不相同。如图1所用的JEOL JEM-2100F透射电子显微镜,其放大倍数极限与市面上常见的球差电镜类同,能够达到1500 k倍,然而其分辨率仅为0.19 nm,不同原子等的成像无明显区别,无法如球差电镜的结果图一样实现原子级的分辨能力。 3 电镜照片处理的常用软件 遵从...
场发射透射电子显微镜(TEM) 1.测试周期:5-10个工作日 2.测试仪器:JEM F200、Talos F200X, FEI Tecnai F20、 JEOL JEM 2100F 3.应用范围:TEM可对样品进行形貌观察或物相分析,可利用高分辨电子显微方法直接…
型号:FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 测试项目: 可测项目:形貌、能谱点扫、能谱线扫、mapping、HAADF(STEM)、衍射 备注:非磁、弱磁、强磁样品均可拍摄 样品要求: 1. 样品状态 粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认 ...
日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-ARM200F 中文简称透射电镜 英文简称TEM 产地日本 上市时间2009年3月25日JEM-2100F 场发射透射电子显微镜 咨询 日本电子株式会社(JEOL) 型号JEM-2100F 中文简称透射电子显微镜 英文简称JEM-2100F TEM 产地日本 上市时间2003年10月29日JEM...
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数96262次 服务周期收到样品后平均3.0-7.8工作日完成 立即预约 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 1. 样品状态 粉末、液体样品均可,薄膜和块体等无法直接测试,需要离子减薄、双喷、FIB、切片制样请提前说明并确认。
仪器型号FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X等 预约次数27268次 服务周期收到样品后平均3.6-11.8工作日完成 立即预约 {{moduleItem.modulename}} 样品要求 注意:TEM云现场/现场机时有限,下单前请先扫描右下角二维码跟指南针工作人员联系,沟通拍摄要求并接受周期后再下单!若样品易变质请提前联...
FEI Tecnai F20, TF30,JEOL JEM 2100F,FEI Talos F200X 透射电镜测试样品需求 粉体需5mg左右,无磁性单颗粉末尺寸小于1μm; 液体1ml以上,如是分散的液体,尽量浓度稍大一些,测试老师可以根据实际情况稀释拍摄; (浓度有特殊要求请备),可以自己制样。
JEOL JEM-2100F 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.2nm JEOL JEM-F200 影像TEM resolution: 0.1nm STEM resolution: 0.16nm EDSDetector: SDD 100 mm2x 2 Solid angle: 1.7 其他功能Strain map 4K x 4K CCD FEI Talos-F200 影像TEM resolution: 0.1nm ...