SIMS和TOF-SIMS是一个意思,飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱SIMS结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用的分析技术。 今天铄思百检测小编顺便带大家详细了解一下TOF-SIMS吧。 飞行时间二次离子质谱...
TOF-SIMS通常用于生物医学、材料科学、环境科学等领域的分析，可以用于生物分子、纳米材料、环境污染物等的研究。总的来说，D-SIMS和TOF-SIMS的主要区别在于离子源的离子束密度不同，D-SIMS的离子束密度较高，适用于表面元素的定量分析，TOF-SIMS的离子束密度较低，适用于表面元素和化合物的定量和结构分...
有机硅定性识别-XPS和TOF-SIMS谱峰特点。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴
TOF-SIMS ▼ 基本原理: 飞行时间-二次离子质谱仪(TOF-SIMS),是一种非常灵敏的表面分析技术。它利用一次离子激发样品表面微量的二次离子,根据二次离子飞行到探测器的时间不同来测定离子质量。由于TOF-SIMS中离子飞行时间只依赖于它们的质...
ToF-SIMS 的主要功能: 原则上是有四种不同的操作模式(功能)或者称为数据视图,即表面质谱,表面成像,深度剖析和三维(3D)分析。 Operation Modes 一、表面质谱: 几千电子伏特能量的一次离子脉冲(PI)轰击样品表面,从表面1-3个原子层激发出带电的表面元素原子和/或分子离子和分子碎片离子(统称SI),随后被TOF Analyser...
科研云-科学前沿云讲座, 视频播放量 260、弹幕量 0、点赞数 4、投硬币枚数 2、收藏人数 10、转发人数 1, 视频作者 科研云-基础科学, 作者简介 一站式科研服务:学术讲座、理论计算、科研绘图、材料测试、论文服务、仪器选型、科研AI等。业务合作:13520034491,相关视频:20
三、TOF-SIMS测试常见问题解答 : 1.DSIMS深度分辨率为什么高于SSIMS? 答:D-SIMS采用DC模式的离子源,深度剖析时分析和溅射同时进行,对表面是连续深度作用的过程,成分从表面到深度的信息是连续采集。而SSIMS采用脉冲模式,深度剖析时分析和溅射交替进行,从表面的到深度的分析不是连续的过程,溅射除去的深度部分的成分信...
XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区... 自留:SEM-EDS和XPS分辨率 测试深度如图
飞行时间二次离子质谱技术(ToF-SIMS)成像为探索有机物、生物有机物和生物系统提供了一种强大的、无需标记的方法。这项技术能够达到非常高的空间分辨率,同时也能产生大量关于表面的化学和分子组成信息。然而,这些信息本质上是复杂的,使得...
自组装纳米相粒子(SNAP)涂料的应用研究,采用XRD(X 射线衍射)、TOF-SIMS(飞行时间二次离子质谱)和AFM(原子力显微镜),研究自组装纳米相粒子(SNAP)涂料的化学结构与形态,产品资讯,建材应用,市场评论,技术中心,涂料油漆,成品材料,建筑基材,原料动态,行业资讯,建筑材