TOF-SIMS主要通过离子源发射离子束溅射样品表面进行分析。离子束作为一次离子源,经过一次离子光学系统的聚焦和传输,到达样品表面。样品表面经过溅射,产生二次离子,系统将产生的二次离子提取和聚焦,并将二次离子送入离子飞行系统。在离子飞行系统中,不同种类的二次离子由于质荷比不同,飞行速度也不同,在飞行系统分离,通...
D-SIMS和TOF-SIMS都是二次离子质谱（Secondary Ion Mass Spectrometry，SIMS）技术，但它们的原理和应用有所不同。D-SIMS是一种离子源为高密度离子束（原子剂量1012 ions/cm2）的SIMS技术，主要用于表面元素的定量分析和化学成分的分析。它的原理是将高能量离子束轰击样品表面，使得样品表面的原子或分子...
有机硅定性识别-XPS和TOF-SIMS谱峰特点。我们探究号科技会一直更新包括(XPS/ TOF-SIMS/ FIB/TEM/SEM-EDS/AES/AFM/ FTIR/ GC-MS/ etc)原理、应用、数据分析和材料分析、失效分析相关案例的免费技术纯干货。感谢每一位粉丝的关注和积极反馈!想尽快掌握相关专业知识的小伙伴
材料与器件检测技术中心建设有一支基础扎实、经验丰富的技术服务团队,中心始终坚持员工丰富多彩的内部培训会议以及持续进行的研发、创新工作,专注于提高技术人员水平,优化对外服务,为客户朋友们提供更加准确、可靠、优质的检测技术服务。 近日,中...
原则上是有四种不同的操作模式(功能)或者称为数据视图,即表面质谱,表面成像,深度剖析和三维(3D)分析。 Operation Modes 一、表面质谱: 几千电子伏特能量的一次离子脉冲(PI)轰击样品表面,从表面1-3个原子层激发出带电的表面元素原子和/或分子离子和分子碎片离子(统称SI),随后被TOF Analyser 飞行时间质量分析器提取...
科研云-科学前沿云讲座, 视频播放量 260、弹幕量 0、点赞数 4、投硬币枚数 2、收藏人数 10、转发人数 1, 视频作者 科研云-基础科学, 作者简介 一站式科研服务:学术讲座、理论计算、科研绘图、材料测试、论文服务、仪器选型、科研AI等。业务合作:13520034491,相关视频:20
XPS、SEM-EDS、AES、TOF-SIMS四种表面分析技术的特点和区... 自留:SEM-EDS和XPS分辨率 测试深度如图
4. TOF-SIMS的独特之处在于其离子飞行时间只依赖于他们的质量。由于其一次脉冲就可得到一个全谱,离子利用率最高,能最好地实现对样品几乎无损的静态分析,而其更重要的特点是只要降低脉冲的重复频率就可扩展质量范围,从原理上不受限制。 三、TOF-SIMS测试常见问题解答 : ...
●何骁,现就职于工业和信息化部电子第五研究所(中国赛宝实验室),主要从事PCB&PCBA的综合测试评价、失效分析及可靠性研究工作。 【摘要】X射线光电子能谱仪(XPS)和飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)作为浅表面化学分析的两种重要手段,能够高精度的提供材...
PS、AFM和ToFSIMS的工作原理及在植物纤维表面分析中的应用植物纤维表面分析中PS、AFM和ToFSIMS的应用引言植物纤维是一种重要的天然材料,具有独特的物理和化学特性。随着科技的发展,对于植物纤维表面的分析已经成为了研究其性质和功能的重要手段。本文将介绍三种表面分析技术:PS、AFM和ToFSIMS,并阐述它们在植物纤维表面...