扫描链(Scan Chain)是一种常用的数字集成电路(IC)测试技术,属于设计可测试性(Design for Testability, DFT)的范畴。扫描链技术是为了简化数字逻辑电路的测试而引入的,它可以让测试人员更容易地访问和控制芯片内部的触发器(Flip-Flops)。 在数字逻辑电路中,触发器(Flip-Flops)是用于存储和传递状态信息的基本元件。在...
scan chain的基本原理是将设计中所有触发器连成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以将预先设计好的scan pattern送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器Q端输出传入它们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级触发器D端就会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,这组向量与工具预先计算好的预期相比较,以此...
DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此...
1.scan chain是由一个个scan cell串起来的多位的移位寄存器链 一个scan cell 扫描单元就是指1bitscan cell,因此一个9bit的multibit中,需要9个cycle才能将值shift完毕,因为是9个寄存器串在一条链上 以最常用的scan cell类型muxed-D scan cell举例: 这些scan chain可以由外部直接访问,将扫描链中的第一个输入称...
Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一,可以有效的筛选出坏片,提高产品质量。不同常规性的从测试,scan test测试触角伸入到芯片的任何角落,测试目标为电路中的标准单元,包括组合及时序逻辑。 扫描链测试可以很简单 作为结构性测试的主要手段(structural test),DFT工程师需要注意的是电路的可测性(...
数模混合片子大部分 I/O 都是模拟,数字很少,scan pin 数量的上限就在那里,也就限制了 scain chain 的条数。如果允许,当然时多几条 scan chain 更好,减少 test time。 但是 package 也是成本的很大部分,不能随心所欲增加 digital I/O 增加 scan chain 数量。有时 package 是用户使用场景决定的,无法选大的...
扫描链（Scan Chain）是一种数字集成电路（IC）测试技术，属于设计可测试性（Design for Testability, DFT）范畴。目的是简化数字逻辑电路测试，让测试人员容易访问和控制芯片内部触发器（Flip-Flops）。在复杂电路中，成千上万个触发器深入嵌套，直接测试状态困难。扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此...
接上回《论DFT | 一文读懂 ScanDEF 相关的一切》,通常,Scan chain 在综合阶段插入,如果插scan chain 时没有考虑物理信息,或者看到的物理信息不准确,或者跟P&R 工具的correlation 不好,那在P&R 阶段可能会看到距离特别远的寄存器被连到了同一条chain 上,这会浪费很多绕线资源,如果设计本来就congestion 敏感,则会...
揭示数字世界中的秘密链：扫描链（Scan Chain）深度解析 在数字电路设计的精密世界中，扫描链（Scan Chain）犹如一座桥梁，连接起测试人员与深藏于复杂逻辑中的触发器（Flip-Flops）。它是设计可测试性（Design for Testability, DFT）的瑰宝，旨在简化测试过程，让测试变得触手可及。想象一下，一个由成千...
下 compile -scan 指令: 程式會幫我們把電路中, 所有的 register 都置換成 Scan Flip Flop. Step 2: Set ATE Configuration --- 這步驟的設定, 可以在 command mode 中指定, 也可以寫在 synopsys_dc.setup檔中.主要是在設定將來 ATE 使用時, Timing 的規範....