Scan Chain 基本工作原理: 扫描链的工作原理相对简单: 在测试模式下,所有的触发器被连接成一个长的串行链。 测试数据(Test Vectors)可以被串行地扫描进这个链。 在应用一个或多个时钟周期后,触发器中的新状态被串行地扫描出来,并与预期结果进行比较。 这样,你就可以非常容易地设置和读取所有触发器的状态,这在故...
scan chain的基本原理是将设计中所有触发器连成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以将预先设计好的scan pattern送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器Q端输出传入它们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级触发器D端就会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,这组向量与工具预先计算好的预期相比较,以此...
通过shift的方式可以由scan chain将数据串行输入的每个寄存器的SI端,达到控制每个寄存器的目的。在capture模式下,将芯片组合逻辑的反馈传回寄存器,达到对芯片内部观测的作用。 DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :...
综上所述:scan就是把普通寄存器替换成可扫描的寄存器,目的是创建control和observation点,然后把所有的可扫描寄存器连接在一起串成扫描链(scan chain),利用扫描链,工具自动产生测试patterns,让寄存器处于一个特定的值(control),然后将期望的值移出来进行对比(observe),来判断芯片是否有缺陷。 接下来介绍scan测试的基本过程。
3. Scan Chain ATPG的原理与实现 3.1理论 1~14 理论的14节课程 3.2实践 实践课 工具是tetramax,三个阶段 build drc和test ,...这个图就是目录。 fault :实际物理缺陷在电路上的反映,可能在某个node产生缺陷。 …
scan chain的原理和实现——11.Scan Compression synopsys DFTMAX——Adaptive Scan 将原始的scan chain分割为更短的scan chain。较短的链条加载时间更少,并且更少的数据加载到测试仪上 1、DFTMAX &Test Mode 在典型的DFT MAX运行中,压缩和常规扫描模式是在扫描插入(insert_dft)期间自动创建的....
can chain的基本原理是将设计中所有的触发器连接成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以使用预先设计好的scan pattern用逐bit移入的方法送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器的Q端输出会传入他们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级出发器D端会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,捕获到的每一级...
扫描链（Scan Chain）是一种数字集成电路（IC）测试技术，属于设计可测试性（Design for Testability, DFT）范畴。目的是简化数字逻辑电路测试，让测试人员容易访问和控制芯片内部触发器（Flip-Flops）。在复杂电路中，成千上万个触发器深入嵌套，直接测试状态困难。扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此...
工作原理的魔法 扫描链的核心原理在于，它在测试模式下将触发器串联成一个长序列，就像一串珠链。测试数据（Test Vectors）如同珠宝般，逐一串入这个链条，经过时钟周期的洗礼，触发器的新状态犹如珍珠般串出，与预设的期望进行比对。这种简单而高效的方法，让故障诊断和测试变得轻而易举。具体操作起来，...