scan path 定义一条chain 的输入输出se,后面的architecture还会详细讲解。 插扫描链最基本的flow就是以上的部分。 后面再看定义完这个信号之后创建protocol,工具根据写的信号去创建protocol,也可以写出spf文件,后续插扫描链,推pattern都是根据这个protocol来做的,这个是分界点,前面是定义,后面是怎么具体实现插扫描链。
3. Scan Chain ATPG的原理与实现 3.1理论 1~14 理论的14节课程 3.2实践 实践课 工具是tetramax,三个阶段 build drc和test ,...这个图就是目录。 fault :实际物理缺陷在电路上的反映,可能在某个node产生缺陷。 …
scan chain的基本原理是将设计中所有触发器连成一条链,用统一的scan clk驱动,这样可以将预先设计好的scan pattern送入芯片中,然后开启capture使能,这样每个触发器Q端输出传入它们所驱动的组合电路,scan chain中的下一级触发器D端就会捕获这个组合电路的输出,然后capture失效,这组向量与工具预先计算好的预期相比较,以此...
CTL、CTLDDC、DDC test model必须用于自适应扫描core集成。 在Internal_scan模式下,HASS在top level创建的扫描链数与所有core扫描链之和相同 仅需一个TestMode端口——在所有自适应扫描core之间共享、在scancompression_mode和internal_scan之间选择 top level integration脚本 Hign X-tolerance compressed scan chain lim...
scan chain的原理和实现 一、Scan Chain基础 二、基础Scan Insertion流程 三、Tester Timing 四、DFT Rules, DRC and AutoFix 五、UDTP 六、Scan Architecture 七、Clock Gating Cell Connection 八、ATSPEED Test & OCC 九、HSS Flow 十、Multi-Mode Scan...
扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此问题。工作原理：通过专门测试逻辑将触发器逻辑连接成串或链，提供外部输入输出端口。正常模式下，触发器执行逻辑功能；测试模式下，通过多路复用器重新配置成链，实现数据串行输入和读出。具体过程：每个触发器通过多路复用器与相邻触发器连接，多路复用器在模式之间切换...
DFT Scan原理是将电路中的时序元件触发器替换为相应的可扫描的时序元件扫描触发器(SDFF),然后将上一级扫描触发器的输出端(Q)连接到下一级的数据输入端(SDI),从而形成一个从输入到输出的测试串行移位寄存器,即扫描链(ScanChain)。通过CP端时钟的控制,实现对时序元件和组合逻辑的测试。采用扫描设计技术后,在扫描控制...
扫描链测试是DFT可测试性设计中的一种核心技术，它通过将设计中的触发器串连成链，采用统一的扫描时钟驱动，将预先设计好的扫描模式送入芯片，实现对芯片的高效检测。这一步骤是结构性测试的主要手段，依赖于电路的可测性，即可观测点和可控制点。扫描链测试的基本原理在于将芯片设计中的所有触发器连接成...
这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器(TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。...
由于IDCODE指令是可选的,不是每个芯片都有的,所以当对一个边界扫描链(scan chain)执行IDCODE指令来输出所有IDCODE时,有IDCODE指令的芯片就选择IDCODE寄存器,输出输出IDCODE,没有IDCODE指令的芯片会自动选择BYPASS寄存器,输出一个“0”。 USERCODE指令 编辑 USERCODE指令---可选指令 选择USERCODE指令时,IC工作在...