3. Scan Chain ATPG的原理与实现 3.1理论 1~14 理论的14节课程 3.2实践 实践课 工具是tetramax,三个阶段 build drc和test ,...这个图就是目录。 fault :实际物理缺陷在电路上的反映,可能在某个node产生缺陷。 …
对节点,有两种; 对path:有起点终点; 一般都不测bridge,16nm以上的都不会用。 lastshift:launch是shift的最后一个阶段,capture是capture system clock· launch和capture 都是在se=0的阶段的两个pulse multi…
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
首先，通过扫描链插入，将功能设计完成后的电路替换为扫描寄存器，形成扫描链进行测试。接着，基于ATPG算法和故障模型以及电路结构生成测试向量。随后，对电路进行门级仿真，最后在测试平台上对有限的芯片输入输出端口进行实际测试。
SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是: 产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX; 插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。 通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作...
Next, an adaptive signal profiling algorithm that can use manufacturing ATPG scan patterns is proposed for scan chain diagnosis. Finally, several case studies and their PFA results are presented to validate the accuracy and effectiveness of the proposed algorithm....
S___SCAN用于检测芯片逻辑功能是否正确。DFT设计时,先使用DesignCom___ler插入ScanChain,再利用ATPG(Automa___
Scan-based ATPG test circuit, scan chain re-placement method and test methodPROBLEM TO BE SOLVED: To provide a scan base ATPG (automatic test pattern generation) test circuit and test method, and a scan chain reconfiguration method.韓 東 觀...
JTAG最初是用来对芯片进行测试的,基本原理是在器件内部定义一个TAP(Test Access Port 测试访问口)通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起,形成一个JTAG链,能实现对各个器件分别测试。现在,JTAG接口还常用于实现ISP(In-System Programmable 在线编程),对FLASH等器件进...
:与边界扫描测试的区别,是内部移位寄存器实现的测试数据输入输出。测试目标是std-logic,即标准单元库。(扫描测试和边界扫描,不是一个概念。需要区别对待。内部的触发器,全部要使用带SCAN功能的...是:产生ATPG使用Mentor的TestKompress 和synopsys TetraMAX,插入scanchain主要使用synopsys的DFTcompiler。 以下对工具的使用...