扫描链(Scan Chain)是一种常用的数字集成电路(IC)测试技术,属于设计可测试性(Design for Testability, DFT)的范畴。扫描链技术是为了简化数字逻辑电路的测试而引入的,它可以让测试人员更容易地访问和控制芯片内部的触发器(Flip-Flops)。 在数字逻辑电路中,触发器(Flip-Flops)是用于存储和传递状态信息的基本元件。在...
clock edge mixed: 如果在插scan chain 时enable 了clock edge mix, 工具会尽量将所有负沿触发的寄存器放在chain 的前半段,把正沿触发的寄存器放在chain 的后半段;如果要将正沿触发的寄存器放在负沿触发的寄存器前面,则需要在rise edge->fall edge 过度的两个寄存器之间插一个lockup latch, 否则在做scan shift ...
DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :scan_in,scan_enable,scan_out 换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE 信号(即 scan enable )有效时,电路进入scan 状态,此...
1.scan chain是由一个个scan cell串起来的多位的移位寄存器链 一个scan cell 扫描单元就是指1bitscan cell,因此一个9bit的multibit中,需要9个cycle才能将值shift完毕,因为是9个寄存器串在一条链上 以最常用的scan cell类型muxed-D scan cell举例: 这些scan chain可以由外部直接访问,将扫描链中的第一个输入称...
Scan Chain简介 随着现代集成电路工艺的发展,芯片制成越来越来精密,出现缺陷的可能性也越来越高,有时候一个微不足道的影响就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,就需要用到扫描链测试(scan chain),DFT可测试性设计中的扫描链测试发展至今,已经有了成熟的设计和制造流程。本文就对扫描链测试过程...
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
扫描链是数字电路设计中用于提升测试可测性的关键技术。其主要特点和作用如下：定义：扫描链是设计可测试性的一部分，它将数字电路中的触发器串联起来，形成一个或多个测试通道。工作原理：在测试模式下，扫描链将触发器串联成一个长序列，测试数据逐一串入这个链条，经过时钟周期后，触发器的新状态串出...
Scan Chain简介 随着现代集成电路工艺的发展,芯片制成越来越来精密,出现缺陷的可能性也越来越高,有时候一个微不足道的影响就可能导致芯片报废,为了能有效的检测出生产中出现的废片,就需要用到扫描链测试(scan chain),DFT可测试性设计中的扫描链测试发展至今,已经有了成熟的设计和制造流程。本文就对扫描链测试过程...
扫描链（Scan Chain）是一种数字集成电路（IC）测试技术，属于设计可测试性（Design for Testability, DFT）范畴。目的是简化数字逻辑电路测试，让测试人员容易访问和控制芯片内部触发器（Flip-Flops）。在复杂电路中，成千上万个触发器深入嵌套，直接测试状态困难。扫描链通过连接触发器形成可访问链解决此...
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...