初始化过程,让芯片进入scan test模式,可以由端口控制,也可以由内部寄存器控制。 Shift---load/unload 串行shift in确定值到scan chain的寄存器上,然后把测试结果shift out进行对比。 Capture scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/ca...
这一过程可以通过端口控制，也可以由内部寄存器触发。Shift---load/unload：串行地移入确定值到scan链的寄存器中，并将测试结果移出进行对比。Capture：在scan_enable信号拉低后，通过输入端口强制确定值，从输出端口测量输出值，然后脉冲捕获时钟。Repeat load/unload---shift/capture until test is done：重复执行shift...
其中，步骤2、3、4共同构成了capture过程的核心环节。最后，我们将深入探讨scan测试的具体细节。主要包括以下四个关键步骤：LOAD过程详解：Force SE to "1" (scan enable)：将scan enable信号置为高电平，以启用scan模式。Force SI (scan chain input pin)：通过扫描链输入引脚强制输入值。Pulse shift clock：脉冲...
1、SE端(SCAN Enable)拉高,电路进入SCAN Shift模式,灌入的测试数据经过若干个CLK周期,将若干SCAN寄存器赋予特定值(即灌入的测试数据);该过程也叫shift; 2、SE拉低,电路进入Func模式,SCAN中的测试数据进入func组合逻辑,最终测试数据从PO端输出,以此可以验证是否符合预期;该过程也叫capture; 这张图画的很简单,真实...
scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/capture until test is done 重复shift和capture过程,直到测试结束。 scan测试具体分析包含如下5个events: Load scan chain(many cycles) ...
scan过程的shi..launch和capture一定是对两个寄存器而言的,当前寄存器reg_cur,前一级寄存器reg_bf。对于reg_cur它的launch就是reg_bf的capture,这个概念在scan和sta
所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的功能。有两种方式可以插入OCC电路: 1. DFT Compiler自动插入。2. 手动编写OCC 的verilog 电路,在dft_insert阶段。 ATPG工具使用的Transition faultmodel如下图 OCC :On Chip Clock
[1]shift模式是指将SE设置为1,scan FF通过si到q的通路首尾相接。数据传输为串行。 [2]capture模式是指将SE设置为0,此时scan FF工作为正常function 寄存器。 将function时候数据由D到q的通路capture到寄存器中。 [3]ATE automated testing equipment.
Scan shift captureDefect coverageMISRFault coneTest sets that target standard fault models may not always be sufficient for detecting all defects. To evaluate test sets for the detection of unmodeled defects, n-detect test sets (which detect all modeled faults at least n times) have previously ...
Verify the scan Capture operate: 1)通常应用一个broadside-load的testbench,直接将整个test pattern移动到scan cell中,只包含一个clock的 shift cycle和一个clock的capture cycle。 目前也都可以通过STA的方式来进行scan shift和scan capture的verify。 Scan Design Costs: ...