Shift---load/unload 串行shift in确定值到scan chain的寄存器上,然后把测试结果shift out进行对比。 Capture scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/capture until test is done 重复shift和capture过程,直到测试结束。 scan测试具体...
Capture：在scan_enable信号拉低后，通过输入端口强制确定值，从输出端口测量输出值，然后脉冲捕获时钟。Repeat load/unload---shift/capture until test is done：重复执行shift和capture步骤，直至测试完成。此外，scan测试还包括以下五个关键事件：Load scan chain：将多个周期的值加载到scan链中。Force primary inputs...
1、SE端(SCAN Enable)拉高,电路进入SCAN Shift模式,灌入的测试数据经过若干个CLK周期,将若干SCAN寄存器赋予特定值(即灌入的测试数据);该过程也叫shift; 2、SE拉低,电路进入Func模式,SCAN中的测试数据进入func组合逻辑,最终测试数据从PO端输出,以此可以验证是否符合预期;该过程也叫capture; 这张图画的很简单,真实...
scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/capture until test is done 重复shift和capture过程,直到测试结束。 scan测试具体分析包含如下5个events: Load scan chain(many cycles) Force primary inputs(PI) Measure primary outputs(PO...
Shift---load/unload：串行地shift确定值到scan chain的各个寄存器中，然后shift出测试结果进行对比。Capture：在scan_enable信号拉低后，通过输入端口force确定值，并从输出端口measure输出值。随后，pulse capture clock以捕获稳定的状态。Repeat load/unload---shift/capture until test is done：重复执行shift和capture...
scan过程的shi..launch和capture一定是对两个寄存器而言的,当前寄存器reg_cur,前一级寄存器reg_bf。对于reg_cur它的launch就是reg_bf的capture,这个概念在scan和sta
将此故障电路放入下图中的时序电路中,如果没有扫描链,激活故障和敏化路径的计算量将是天文级的。 扫描链测试可以极大的简化测试难度。通过SCAN SHIFT[1]模式,直接将1011向量通过pad串行加载到寄存器上。再通过SCAN CAPTURE[2]模式,让故障电路的输出被OB寄存器捕捉。再下一次load时,将故障点的值将通过scan chain串行...
shift cycle和一个clock的capture cycle。 目前也都可以通过STA的方式来进行scan shift和scan capture的verify。 Scan Design Costs: 1)area overhead cost,包括两部分,scan cell与FF的替换,以及scan routing的部分。 2)I/O pin cost,包括一个dedicate test mode pin(可以通过一个initial sequence来避免) ...
1、SE端（SCAN Enable）拉高，电路进入SCAN Shift模式，灌入的测试数据经过若干个CLK周期，将若干SCAN...
所以,OCC电路实现了在shift阶段和capture阶段对时钟(PLL/ATE)进行选择的功能。有两种方式可以插入OCC电路: 1. DFT Compiler自动插入。2. 手动编写OCC 的verilog 电路,在dft_insert阶段。 ATPG工具使用的Transition faultmodel如下图 OCC :On Chip Clock