初始化过程,让芯片进入scan test模式,可以由端口控制,也可以由内部寄存器控制。 Shift---load/unload 串行shift in确定值到scan chain的寄存器上,然后把测试结果shift out进行对比。 Capture scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/ca...
初始化过程,让芯片进入scan test模式,可以由端口控制,也可以由内部寄存器控制。 Shift---load/unload 串行shift in确定值到scan chain的寄存器上,然后把测试结果shift out进行对比。 Capture scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/ca...
Verify the scan Capture operate: 1)通常应用一个broadside-load的testbench,直接将整个test pattern移动到scan cell中,只包含一个clock的 shift cycle和一个clock的capture cycle。 目前也都可以通过STA的方式来进行scan shift和scan capture的verify。 Scan Design Costs: 1)area overhead cost,包括两部分,scan ce...
scan过程的shi..launch和capture一定是对两个寄存器而言的,当前寄存器reg_cur,前一级寄存器reg_bf。对于reg_cur它的launch就是reg_bf的capture,这个概念在scan和sta
Capture：在scan_enable信号拉低后，通过输入端口force确定值，并从输出端口measure输出值。随后，pulse capture clock以捕获稳定的状态。Repeat load/unload---shift/capture until test is done：重复执行shift和capture过程，直至整个测试完成。此外，scan测试还涉及到五个关键事件：Load scan chain（需要多个周期）、...
scan_enable拉低,从输入端口force确定值,从输出端口measure输出值,然后puluse capture clock。 Repeat load/unload---shift/capture until test is done 重复shift和capture过程,直到测试结束。 scan测试具体分析包含如下5个events: Load scan chain(many cycles) ...
Low Power BIST for Scan-Shift and Capture Power. Sato Y,Wang Senling,Kato T,et al. Proc of the 21st Asian Test Symposium . 2012Sato Yasuo, Wang Senling, Kato Takaaki, Miyase Kohei and Kajihara Seiji," Low Power BIST for Scan-Shift and Capture Power" in IEEE 21st Asian Test Symposium...
1、SE端（SCAN Enable）拉高，电路进入SCAN Shift模式，灌入的测试数据经过若干个CLK周期，将若干SCAN...
AC与DC模式的shift是一样的,launch和capture过程的时钟策略不同。AC实速测试的频率往往要高于ATE时钟,至少要保证芯片launch clock和capture clock为芯片内部的高倍时钟。 AC测试时,ATE只提供慢速的移位时钟和测试控制信号,高速测试脉冲由片内产生,如PLL。工作频率的时钟脉冲第一个脉冲产生一个跳变,从一个scan cell启...
扫描链测试可以极大的简化测试难度。通过SCAN SHIFT[1]模式,直接将1011向量通过pad串行加载到寄存器上。再通过SCAN CAPTURE[2]模式,让故障电路的输出被OB寄存器捕捉。再下一次load时,将故障点的值将通过scan chain串行输出到pad,由ATE[3]捕捉进行比较。