换完之后将所有的 scan DFF 首尾依次串接起来,就构成了一条 scan chain : 当SE拉高时,进入Shift阶段,为SI路径,此时CLK toggle三次(若为010),分别由SI pin赋予从左至右三个Reg值为010。之后SE拉低,进入Capture阶段,这一瞬间,首先有PI赋值,同时在PO端直接观察结果,然后CLK进行toggle,将Shift阶段写入SD中且经...
2、Clocked-Scan Cell 在scan的设计中,边缘触发的时钟扫描单元也可以用来代替D触发器,与muxed-D扫描单元类似,时钟扫描单元也有数据输入DI和扫描输入SI;而在时钟扫描单元中,使用两个独立的时钟进行输入选择,数据时钟DCK和shift时钟SCK。 clocked-scan cell 在正常/capture模式下,数据时钟DCK用来capture在数据输入DI到scan...
DFT Scan Capture 是一种测试模式,通过插入扫描链(scan chains)来辅助测试电路中的逻辑电路。它可以将原始逻辑电路转换为可进行扫描测试的形式,提高测试的覆盖率和准确性。 三、流程 1. RTL 设计:在进行 DFT Scan Capture 之前,首先需要进行 RTL 设计,即 Register Transfer Level 设计,确定芯片的逻辑功能和寄存器的...
通过shift的方式可以由scan chain将数据串行输入的每个寄存器的SI端,达到控制每个寄存器的目的。在capture模式下,将芯片组合逻辑的反馈传回寄存器,达到对芯片内部观测的作用。 DFT 第一步是做 scan chain,首先将电路中的普通 DFF 换成 scan DFF: scan DFF 是在原DFF 的输入端增加了一个 MUX,于是多了几个 pin :...
但在shift阶段(Shift Enable= 1),scan clock在 OCC 的输出端propagate。在capture阶段(Shift Enable = 0),移位寄存器开始shift“1”并启用Clock Gate,以根据test type来允许单脉冲或双脉冲。OCC 在stuck-at test(At-speed Mode = 0)中生成一个时钟脉冲,在at-speed test(At-speed Mode = 1)中生成两个时钟...
[1]shift模式是指将SE设置为1,scan FF通过si到q的通路首尾相接。数据传输为串行。 [2]capture模式是指将SE设置为0,此时scan FF工作为正常function 寄存器。 将function时候数据由D到q的通路capture到寄存器中。 [3]ATE automated testing equipment.
在实际的芯片设计中，这一步以及将普通DFF替换成scanDFF的操作都是由工具自动完成的。扫描测试目的：固定故障测试：测试制造设备中的固定故障。路径延迟测试：测试制造设备中的路径的延迟，确保每条路径都工作在功能频率下。扫描测试阶段：DFT Scan测试主要包括三个阶段：Setup、Load/Unload、Lunch/Capture。
在测试过程中，bscan链能够独立控制芯片输入输出，具体操作步骤如下：捕获芯片管脚输出时，将输出加载至链中的寄存器单元，通过tdo读取；在管脚上加载特定信号，通过tdi将期望信号移位至单元，然后将其值加载至相应管脚。bscan链的操作遵循特定的流程：shift（移位）、update（更新）、capture（捕获）。通过...
采样指令:SAMPLE模式下,指令码由设计者自行定义,此时扫描链中的Capture/Scan寄存器采样Din的数据。预加载指令:PRELOAD模式下,指令码由设计者自行定义,此时扫描链中的Capture/Scan寄存器的数据update到Update寄存器中。外测试指令:EXTEST模式下,指令码为全0。此时测试芯片间的逻辑,Update FF的数据通过Dout输出,经过片间...
1、SE端(SCAN Enable)拉高,电路进入SCAN Shift模式,灌入的测试数据经过若干个CLK周期,将若干SCAN寄存器赋予特定值(即灌入的测试数据);该过程也叫shift; 2、SE拉低,电路进入Func模式,SCAN中的测试数据进入func组合逻辑,最终测试数据从PO端输出,以此可以验证是否符合预期;该过程也叫capture; 这张图画的很简单,真实...