翻译 probe card 英[prəub kɑ:d] 美[prob kɑrd] 释义 探针板 实用场景例句 全部 Then, the thin - film sheet with the pressing tool bonded thereto is attached to aprobe card. 然后, 将其上接合有按压工具的薄膜片附着到探针卡.
1、刀片探针卡(Blade Probe Card):将几十到上百个微悬臂梁形探针通过环氧树脂环固定在PCB板上,并根据所要测试芯片上引脚的位置进行布局。 2、悬臂针卡(Cantilever Probe Card):与刀片针卡类似,但是微悬臂梁形探针被放置在PCB板的上表面。 3、垂直针卡(Vertical Probe Card):采用了在竖直方向上可以弯曲的探针来...
探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要用于芯片封装前对芯片的电学性能进行初步测试,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程,因此,探针卡的作用至关重要,属于半导体核心检测耗材。 下面我们就来介绍一下在半导体晶圆测试中的探针卡,以及探针卡的类型之一——垂直式探针...
Probe Card 探针卡理论 探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。 集成电路(integrated circuit,缩写:IC)是采用半导体制作工艺,在一块较小的硅片上制作许多晶体管及电阻器、电容...
探针卡(probe card)又称晶元探针卡,目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂探针卡及垂直探针卡。 全球首发!柔宇科技发布了全球第一款可折叠手机 当三星、华为的折叠手机方案还在试验阶段的时候,柔宇科技却捷足先登,为世人呈现了第一部可折叠手机。31日下午15时左右,柔宇科技召开全球新品发布会,现场推出其研究...
晶圆测试用探针卡 Probe Card 一站式晶圆测试探针卡的设计,制造服务 微针半导体开发了各种方法来提高悬 […]
Vertical-Probe是指适合常规逻辑产品（包括SoC和微计算机产品）的多管芯测试的探针卡。它被称为“垂直型”探针卡，因为探针针垂直于基材。由于其短针状结构且与设备垂直接触，因此垂直类型最适合于测量小焊盘，高频设备。3 、微机电系统探针卡 MEMS-SP是指用于逻辑器件的探针卡（probe card），适用于微处理器和SoC...
探针卡(probe card)又称晶元探针卡,目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂探针卡及垂直探针卡。 全球首发!柔宇科技发布了全球第一款可折叠手机 当三星、华为的折叠手机方案还在试验阶段的时候,柔宇科技却捷足先登,为世人呈现了第一部可折叠手机。31日下午15时左右,柔宇科技召开全球新品发布会,现场推出其研究...
浙江微针半导体有限公司是一家专业从事MEMS探针卡和半导体探针卡研发、生产和销售为一体的公司。我们致力于为专注于为各类半导体器件的晶圆测试提供悬臂、垂直、MEMS探针卡Probe Card,并为汽车电子、通讯、航空航天等领域提供窄间距的柔性薄膜探针解决方案。我们拥有一支专