Probe Card PCB Product Name: probe card PCB Plate: Panasonic M6 Minimum DUT pitch: 0.65mm Surface technology: nickel palladium Plate thickness: 4.0 mm Number of floors: 28 Copper finished product size: less than 18 * 24 inches Purpose: probe card PCB is used to connect the tester and pad...
SP-Probe是指垂直弹簧针型探针卡（probe card）。用于NAND闪存的SP-Probe适用于12英寸晶圆的一触式测试。其高针压规格通过与氧化膜下的垫片接触来帮助实现稳定的接触，还允许更换单针以方便维护。垂直弹簧针型探针卡 5 、WLCSP晶圆级封装芯片测试探针卡 晶圆级芯片级封装（WLCSP）的探针卡适用于测试区域阵列设备。探...
公司探针卡产品种类全面,拥有 2D MEMS 探针卡、垂直探针卡、悬臂探针卡、薄膜探针卡等。其中,2D MEMS 探针卡是基于 MEMS 探针技术制造的垂直探针卡,主要由 MEMS 探针、导引板、空间转接基板、PCB 以及机械结构部件构成,其每一支探针通过 MEMS 工艺制造;薄膜探针卡是基于 MEMS技术制造的薄膜与探针一体化的探针卡,主...
1、刀片探针卡(Blade Probe Card):将几十到上百个微悬臂梁形探针通过环氧树脂环固定在PCB板上,并根据所要测试芯片上引脚的位置进行布局。 2、悬臂针卡(Cantilever Probe Card):与刀片针卡类似,但是微悬臂梁形探针被放置在PCB板的上表面。 3、垂直针卡(Vertical Probe Card):采用了在竖直方向上可以弯曲的探针来...
迈斯卡德为OLED等显示面板(Flat Panel Display Test)和半导体测试(Semiconductor Test)提供测试设备支持。在面板测试,MicroLED E/L测试,Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力,能够为企业定制解决方案。 公司主要产品有:各式探针卡(Probe Card),高阶PCB载板,各类弹性薄膜探针(Film Contactor),Por...
探针卡，即probe card，是晶圆测试中连接被测芯片和测试机的接口，主要用于在芯片分片封装前进行电学性能的初步测量，筛选不良芯片后，进行后续封装。它是芯片功能验证测试和产业化测试的关键工具。探针卡种类多样，包括但不限于：刀片探针卡：将数十到上百个微悬臂梁形探针通过环氧树脂环固定在PCB板上，...
... 1.探针卡印刷电路板( Probe Card PCB) 2.测试承载板/预烧板之印刷电路板( Load Board/Burn-In Board…www.104.com.tw|基于28个网页 2. 探针卡电路板 主要产品有自有品牌之Zen Voce 探针卡电路板(Probe Card PCB), AMST垂直式晶圆探针卡(Vertical Probe Card). Zen Voce逻 …company.zhaopin.com|...
探针卡(Probe card)或许很多人没有听过,但看过金誉半导体关于CP(Circuit Probing、Chip Probing)测试,也就是晶圆测试方面文章的人应该不会陌生,其中就有提到过探针卡。晶圆测试过程非常重要,而它之所以可较早筛选不良产品,避免不良die流到封装过程中,探针卡功不可没。
探针卡(probe card)又称晶元探针卡,目前晶圆测试厂广泛用于晶圆测试的探针卡为悬臂探针卡及垂直探针卡。探针卡主要由PCB、探针、ring组成,根据不同需求,还会有电子元件、stittenerokx等的需求,是一种用于晶圆测试中被测试芯片和测试机之间的关键接口。广泛应用于内存、逻辑、消费、驱动、通讯IC等科技产品的晶圆测试。
探针卡（probe card）是晶圆测试中芯片与测试机之间的关键接口，用于在封装前对芯片进行电学性能初测，筛选不良芯片，是集成电路（IC）分片封装前质量控制的重要工具。探针卡按结构类型可分为刀片针卡、悬臂针卡、垂直针卡、膜式针卡和MEMS针卡等。探针卡主要由PCB、探针及功能部件构成，可添加电子元件、...