探针卡英文名称是probe card,是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。因此是芯片功能验证测试和产业化测试的关键工具。 本文为您介绍探针卡的主要应用、类型、注意事项以及常见测试方法,希望能够帮助您...
Probe Card 探针卡理论 探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。 集成电路(integrated circuit,缩写:IC)是采用半导体制作工艺,在一块较小的硅片上制作许多晶体管及电阻器、电容...
探针卡是由探针（probe pin）、电子元件（component）、线材（wire）与印刷电路板（PCB）组成的一种测试接口，根据不同的情况，还会有电子元件、补强板（Stiffener）等的需求，主要对裸芯进行测试，即wafer level测试。晶圆测试时，被测对象安置于探针台之上，然后用探针卡上的探针与芯片上的焊垫或凸块直接接触，引出...
Wafer Probe CardsHigh-Performance Field Repairable Direct-Attach Probe CardscStrider High Power Probe Card Cohu’s production-proven test cell solutions enable the high-voltage and high-current requirements to ramp power bare die silicon carbide (SiC) MOSFETs and Schottky diodes, and gallium nitride...
迈斯卡德为OLED等显示面板(Flat Panel Display Test)和半导体测试(Semiconductor Test)提供测试设备支持。在面板测试,MicroLED E/L测试,Wafer Probing晶圆测试和Final Test成品测试中有较强的技术能力,能够为企业定制解决方案。 公司主要产品有:各式探针卡(Probe Card),高阶PCB载板,各类弹性薄膜探针(Film Contactor),Por...
A wafer probe card has an adapter module and a probe module detachably mounted together. The adapter module has a holding member and an interposer mounted within the holding plate. The probe module has a frame assembly and a space transformer and a probe assembly mounted within the frame ...
High-performance RF probe card for wireless RF and microwave production test RF / MMW / Radar Production RF probe cards are rugged, robust, and well suited for the rigors of high-performance wafer sort. Their industry-leading signal integrity and mechanical capabilities make these probe cards the...
探针卡是由探针(probe pin)、电子元件(component)、线材(wire)与印刷电路板(PCB)组成的一种测试接口,根据不同的情况,还会有电子元件、补强板(Stiffener)等的需求,主要对裸芯进行测试,即wafer level测试。 晶圆测试时,被测对象安置于探针台之上,然后用探针卡上的探针与芯片上的焊垫或凸块直接接触,引出测试机(Atomi...
(HBM), and emerging memory devices. Specifically developed to support fast design ramps and advanced product roadmaps, this platform extends the production-proven Matrix™ architecture to address increased probe card parallelism in excess of 3000 sites per wafer on a single touchdown. Utilizing ...
Probe Card 探针卡基础知识--Winner 1. 探针卡(probe card)是晶圆测试(wafer test)中被测芯片(chip)和测试机之间的接口,主要应用于芯片分片封装前对芯片电学性能进行初步测量,并筛选出不良芯片后,再进行之后的封装工程。 2. 集成电路(integrated circuit,缩写:IC)是采用半导体制作工艺,在一块较小的硅片上制作许...