内容提示: JEDEC STANDARD Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test JESD22-A117E (Revision of JESD22-A117D, August 2018) NOVEMBER 2018 JEDEC Solid State Technology Association Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020...
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