JEDEC STANDARD Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program / Erase Endurance and Data Retention Stress Test JESD22-A117E (Revision of JESD22-A117D, August 2018) NOVEMBER 2018 JEDEC Solid State Technology Association Downloaded by wang sheng (ws3640@163.com) on May 8, 2020, 6:24 ...
JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）JEDEC JESD22-A118B.01：2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST（加速的耐湿性-无偏的HAST）JEDE...
JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试) JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) JEDEC...
JESD22-A113I:2020 Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing - 可靠性测试前的非封闭表面贴装器件的预处理 JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM)...
JESD22-A113I:2020 Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing - 可靠性测试前的非封闭表面贴装器件的预处理 JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM)...
JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试) JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) ...
本标准规定了基于资格规范进行有效的耐久性、保留性和跨温度测试的过程要求。电可擦除可编程只读存储器 (EEPROM) 程序 / 擦除 耐久性及数据保持应力测试, Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data
JEDEC JESD22-A117A-2006 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合。 JEDEC JESD22-A117A-2006 电子可清除可编程ROM程序/清除耐久力和数据保持测试的最新版本是哪一版? JEDEC JESD22-A117A-2006已经是当前最新版本。 应在适用的设备规范和/或供应商的内部应力测试规范中指定以下详细信息以及理由 ...
JESD22-A113I:2020 Preconditioning of Nonhermetic Surface Mount Devices Prior to Reliability Testing - 可靠性测试前的非封闭表面贴装器件的预处理 JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM)...