JEDECSTANDARDElectricallyErasableProgrammableROMEEPROMProgram/EraseEnduranceandDataRetentionStressTestJESD-A117ERevisionofJESD-A117DAugust018NOVEMBER018JEDECSolidStateTechnologyAssociationDownloadedbywangshengws3640@163.comonMay8006:4amPDTbyd
JEDEC JESD22-A117E：2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test（电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试）JEDEC JESD22-A118B.01：2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST（加速的耐湿性-无偏的HAST）JEDE...
JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试) JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) JEDEC...
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底部侧板连接能力评估（JEDEC JESD22-A111B）非封闭表面贴装器件的可靠性测试前预处理（JEDEC JESD22-A113I）电可擦除可编程ROM（EEPROM）的程序擦除耐久性和数据保留压力测试（JEDEC JESD22-A117E）加速的耐湿性-无偏HAST测试（JEDEC JESD22-A118B.01）低温储存寿命测试（JEDEC JESD22-A119A）有机...
JEDEC JESD22-A117E:2018 Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program Erase Endurance and Data Retention Stress Test(电可擦除可编程 ROM (EEPROM) 程序擦除耐久性和数据保留压力测试) JEDEC JESD22-A118B.01:2021 Accelerated Moisture Resistance - Unbiased HAST(加速的耐湿性-无偏的HAST) ...
本标准规定了基于资格规范进行有效的耐久性、保留性和跨温度测试的过程要求。电可擦除可编程只读存储器 (EEPROM) 程序 / 擦除 耐久性及数据保持应力测试, Electrically Erasable Programmable ROM (EEPROM) Program/Erase Endurance and Data
JEDEC JESD22-A117A-2006 在中国标准分类中归属于: L10 电子元件综合。 JEDEC JESD22-A117A-2006 电子可清除可编程ROM程序/清除耐久力和数据保持测试的最新版本是哪一版? JEDEC JESD22-A117A-2006已经是当前最新版本。 应在适用的设备规范和/或供应商的内部应力测试规范中指定以下详细信息以及理由 ...