日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
高分辨透射电镜[JEOL ARM-200F](JEOL Atomic Resolution Mciroscope) 所在单位:中国科学技术大学 品牌/型号:JEOL公司,JEOL ARM-200F 所在地区:安徽省 仪器说明:我们目前尚未与中国科学技术大学提供的该仪器进行进一步的对接。如果您需要使用该仪器,建议您联系相关单位,以确定是否可以对外开放。您也可以通过点击此处提交...
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In this work the calibration of a medium resolution off-axis electron holography using a dual-lens imaging system in a JEOL ARM 200F is shown. The objective dual-lens configuration allows adjusting the field of view from 35 nm to 2.5 um. Subsequently, the parameters used in phase shift ...
Career Opportunities Scanning Electron Microscopes (SEM) HV/LV Tungsten/LaB6 SEMs SEM-FIB Mass Spectrometers Microprobe (EPMA) and Auger JXA-iHP200F JXA-iSP100 JAMP-9510F Soft X-Ray Emission Spectrometers Electron Beam Lithography JBX-A9
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