日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
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发货地 广东深圳 商品类型 机械设备 、 电子产品制造设备 、 电子元件成型设备 商品关键词 日本JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜、 JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200F 商品...
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原装JEOL 日本電子株式会社分辨率分析电子显微镜 JEM-ARM200F JEOL,日本電子株式会社品牌 48小时发货 ¥74501.0 深圳市京都玉崎电子有限公司13年 供应日本电子JEOLV3302C 实拍图片全新原装质保一年顺丰包邮现货 JEOL品牌 一件代发 ¥168.0 东莞市万江博发机械配件经营部1年 ...
The new JEOL JEM‐ARM200CF at the University of Illinois at Chicagodoi:10.1002/crat.201300200R. F. KlieA. GulecZ. GuoT. PaulauskasQ. QiaoR. TaoC. WangK. B. LowA. W. NichollsP. J. PhillipsJohn Wiley & Sons, Ltd
JEM-ARM200F 分析显微镜 Jeol: JEM-F200 分析显微镜 Jeol JEM-2200FS 分析显微镜 Jeol: JEM-2100Plus 生物医疗显微镜 Jeol JEM-1400Flash 分析显微镜 Jeol: JED-2300T 荧光分析仪 Jeol EM-05500TGP 采集软件 Jeol: JSM-7900F 分析显微镜 Jeol JSM-F100 分析显微镜 Jeol: JSM-7610F 分析显微镜 Jeol JSM-IT200...
2014年,日本电子再次引领潮流,发布了终极分辨率的大杀器——新一代球差校正透射电镜JEM-ARM300F,也称为GRAND ARM,这是一款300kV原子分辨级透射电子显微镜,是JEM-ARM200F的升级版,采用了日本电子独自研发的十二级像差校正器,分布率达到0.05nm,STEM-HAADF的分辨率可达0.063nm,日本电子再一次把商业化的透射电镜推向了...