JEM-ARM200F NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜, 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,可以自动进行快速准确的像差校正。新STEM成像技术(e-ABF...
日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射电子显微镜标配了冷场发射电子枪和全新的高阶球差校正器。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由此实现了高通量的原子级分辨率成像。此外,新型STEM...
日本JEOL 原子级分辨率透射电子显微镜 JEM-ARM200F NEOARM价格 ¥ 1.00 起订数 1台起批 发货地 广东深圳 咨询底价 产品服务 热门商品 德国YXLON多用途高分辨率CT系统FF35 CT 价格面议 URE-2000/30D 型(定制)紫外光刻机 ¥ 490000.00 德国IPLAS MPCVD CYRANNUS® 微波等离子化学气相沉积 ¥ ...
发货地 广东深圳 商品类型 机械设备 、 电子产品制造设备 、 电子元件成型设备 商品关键词 日本JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜、 JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200F 商品...
原装JEOL 日本電子株式会社分辨率分析电子显微镜 ARM200F JEOL,日本電子株式会社 品牌 48小时发货 ¥36594.0 深圳市京都玉崎电子有限公司 13年 原装JEOL 日本電子株式会社 透射电子显微镜 JEM-2100Plus JEOL,日本電子株式会社 品牌 48小时发货 ¥74514.0 深圳市京都玉崎电子有限公司 13年 日本电子JEOL ...
2009年,日本电子成立六十周年庆,推出了当时世界上分辨率最高的商业化球差校正透射电镜JEM-ARM200F,透射模式分辨率达到0.19nm,STEM-HAADF的分辨率可达0.078nm,这款产品大获成功,开启了球差校正的新时代。如下图, 世界上第一台JEM-ARM200F安装在德州大学圣安东尼奥分校University of Texas at San Antonio,2010年1月安...
The new JEOL JEM‐ARM200CF at the University of Illinois at Chicagodoi:10.1002/crat.201300200R. F. KlieA. GulecZ. GuoT. PaulauskasQ. QiaoR. TaoC. WangK. B. LowA. W. NichollsP. J. PhillipsJohn Wiley & Sons, Ltd
JEM-ARM200F 分析显微镜 Jeol: JEM-F200 分析显微镜 Jeol JEM-2200FS 分析显微镜 Jeol: JEM-2100Plus 生物医疗显微镜 Jeol JEM-1400Flash 分析显微镜 Jeol: JED-2300T 荧光分析仪 Jeol EM-05500TGP 采集软件 Jeol: JSM-7900F 分析显微镜 Jeol JSM-F100 分析显微镜 Jeol: JSM-7610F 分析显微镜 Jeol JSM-IT200...
JEOL introduces JEM-ARM200F, atomic resolution analytical microscope with STEM-HAADF resolution of 0.08 nm 2008 JEOL receives 8th Omega award for customer service JEOL introduces benchtop SEM with LV and high resolution 2007 JEOL ships 10,000th SEM unit from Technics group in Japan JEOL receives...