分析测试中心新购置一台场发射透射电子显微镜(JEM-ARM200F),目前已基本完成安装与调试,自2024年10月08日起试运行。 01 仪器介绍 JEM-ARM200F是一台配备聚光镜球差矫正器的透射电子显微镜,可以获得原子级别分辨的BF-、ABF-、ADF-STEM图像。并配有超级双能...
日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
型号 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM 日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚...
品牌 其他品牌 型号 JEM-ARM200F 产地 厂商性质 代理商 更新时间 2024/9/1 20:43:07 访问次数 630 产品标签 透射电子显微镜CMOS相机供应光纤耦合CMOS相机光纤耦合CMOS相机价格 在线交流 发送询价 进入商铺 同类产品 联系方式:韩忠0512-63022732 联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!索取...
日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚纳米分辨率0.078nm的同时,能量分辨率提高到0.3eV,极大增强了原子级观察和原子级分析能力。 在美国的第一台搭载冷场发射电子枪的JEM-ARM200F将安装在Florida State University’s ...
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日本电子株式会社(社长 栗原 権右衛門)宣布:新型原子分辨率分析型电子显微镜JEM-ARM200F “NEOARM”开发了, 于2017年6月开始销售。 开发背景 现在,配备球差校正器的透射电子显微镜几乎已成为高端研究场所的标准配置,本公司已经向全世界输送了近200台球差校正透射电镜。
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“NEOARM"标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR) 详细介绍 “NEOARM" 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动...