1. 全新高阶球差校正器ASCOR (Advanced STEM Corrector) 目前,在五阶球差被校正之后,阻碍透射电镜分辨率进一步提高的Zda障碍就是五阶的六重像散,“NEOARM”上配备的新型球差校正器ASCOR完全能够校正6重像散。ASCOR和Cold-FEG的wan美组合实现了从高加速电压到低加速电压下前所未有的高分辨率。 2. 自动像差校正软...
型号规格 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM 放大倍率 50X-2,000,000 可售卖地 北京;天津;河北;山西;内蒙古;辽宁;吉林;黑龙江;上海;江苏;浙江;安徽;福建;江西;山东;河南;湖北;湖南;广东;广西;海南;重庆;四川;贵州;云南;西藏;陕西;甘肃;青海;宁夏;新疆 核心参数仪器种类: 场发射分辨率: STEM图像:0.071nm(有球...
“NEOARM"支持能增强轻元素衬度的新ABF成像技术(e-ABF:enhanced ABF),实现了对含有轻元素样品的原子级结构的观察。 ◇ Perfect sight检测器 STEM系统标配的Perfect sight检测器作为混合检测器,采用了由不同材料制成的闪烁器。该检测器具有的宽电压适应性,不依赖于加速电压始终都可以获得高衬度的STEM图像,并可用于...
NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪(Cold-FEG)和全新的高阶球差校正器(ASCOR)。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下,均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统,采用日本电子独自开发的像差校正算法,可以自动进行快速准确的像差校正。由...
型号 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM 日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚...
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