JEOL JEM-ARM200F 测试项目 HRTEM STEM-HAADF/ABF EDS mapping EELS mapping 磁性非磁性样品均可 原位测试请咨询 测试样例 样例 仪器概要 日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜...
NEOARM 原子级分辨率透射电子显微镜为了响应近来已成为主流的远程操作的需求,NEOARM的电镜室和操作室实行了分离式,主机使用了JEOL的新概念颜色—纯白色和JEOL银色,设计精炼时尚。 主要特点: ◇ 球差校正器ASCOR(Advanced STEM Corrector) “NEOARM”配备的新型球差校正器ASCOR能够校正高阶像差(即6重像散,目前阻碍透...
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电镜主机采用的纯白色和JEOL银色在室内协调美观,外观设计精炼简洁。 技术参数: 分辨率*1 STEM HAADF 图像: 70 pm (200 kV)、100 pm (80 kV)、160 pm (30 kV)TEM 信息分辨率: 100 pm (200 kV)、110 pm (80 kV)、250 pm (30 kV) 电子枪 标配冷场电子枪 球差校正器 STEM: NEO ASCOR HOAC*2、TEM...
JEOL COSMO™采用了全新像差校正算法(SRAM:Segmented Ronchigram Auto-correlation function Matrix),即能快速极ng确地校正至5阶像差。与采用传统校正算法的系统相比,JEOL CMSMO™在自动化易用性等方面更进一步,客户可以通过该系统简单GX地获取原子级别分辨率的数据。
发货地 广东深圳 商品类型 机械设备 、 电子产品制造设备 、 电子元件成型设备 商品关键词 日本JEOL原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜、 JEM、 ARM200FNEOARM、 原子级分辨率透射电子显微镜JEM、 ARM200F 商品...
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