型号 JEM-ARM200F(C)-NEO ARM 日本电子株式会社2010年7月最新推出了冷场发射双球差校正原子分辨和分析型透射电镜。传统的冷场发射技术稳定性差,亮度低,无法保证透射电镜的使用需求。日本电子株式会社最新开发的冷场发射技术解决了这些问题,并把该技术加入到最新球差校正透射电镜ARM200F序列里。使ARM200F在保证亚...
日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器,电气和机械性能的稳定性也达到极限水平, 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm, 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后, 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分...
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JEM-ARM200F 原子分辨分析型透射电子显微镜 JEM-ARM200F标配了照明系统球差校正器,是一款原子分辨分析型透射电镜,拥有世界领先的STEM-HAADF像分辨率(78pm)。标配照明系统球差校正器,且zei大限度地提升了装置的机械稳定性和电气稳定性,实现了世界领先的STEM-HAADF像分辨率 (78pm*1、82pm*2)。
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日本电子株式会社去年11月份初在第九届亚太电镜大会上发布了最新一代球差过滤一体化透射电镜JEM-ARM200F。它的加速电压为200kV,分辨率可达0.08nm,搭载一体化STEM球差过滤器,还可以加装TEM球差过滤器,操作简单,是目前为止分辨率最高的商业化透射电子显微镜。透射电子显微镜是材料科学领域最重要的研究工具之一,透射电镜使...
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