聚焦离子束（FocusedIonbeam,FIB）聚焦离⼦束（FocusedIonbeam,FIB）聚焦离⼦束(Focused Ion beam, FIB)的系统是利⽤电透镜将离⼦束聚焦成⾮常⼩尺⼨的显微切割仪器，⽬前商⽤系统的离⼦束为液相⾦属离⼦源(Liquid Metal Ion Source,LMIS)，⾦属材质为镓(Gallium, Ga)，因为镓元素具有低...
聚焦离子束技术(FocusedIon beam,FIB)是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的离子束轰击材料表面,实现材料的剥离、沉积、注入、切割和改性。随着纳米科技的发展,纳米尺度制造业发展迅速,而纳米加工就是纳米…
离子推进器能产生微牛顿级的力,用于空间物体的导航,而我们陆地使用的 FIB 仪器则能制造、改造和表征微米到纳米级的物体。 FIB加工的主要应用仍然是为高分辨率成像技术服务,特别是为透射电子显微镜(TEM)和原子探针断层扫描(APT)以及使用扫描电子显微镜(SEM)进行三维体积成像而进行的样品区域选择性制备。关于这些重要而成...
FIB制样是一种利用聚焦离子束(Focused Ion Beam, FIB)技术进行样品制备的方法。 以下是关于FIB制样的一些详细信息: 1. 原理:FIB技术通过将液态金属(通常是镓Ga)的离子源产生的离子束经过加速和聚焦后照射到样品表面,可以产生二次电子信号以取得电子图像。同时,使用较高电流的离子束可对表面原子进行物理溅射,从而完...
FIB的应用Focused Ion Beam 聚焦离子束显微镜 (Focused Ion Beam, FIB) 聚焦离子束显微镜是运用镓 (Ga) 金属来做为离子源。因为镓的熔点为 29.76°C,且在此时的蒸气压为«10-13 Torr,所以很适合在真空下操作。在…
聚焦离子束(Focused Ion beam, FIB)聚焦离子束(FocusedIonbeam,FIB)的系统是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器，目前商用系统的离子束为液相金属离子源(LiquidMetalIonSource,LMIS)，金属材质为镓(Gallium,Ga)，因为镓元素具有低熔点、低蒸气压、及良好的抗氧化力；典型的离子束显微镜包括液相金属离子...
Focused Ion Beam System (FIB/FIB-SEM) Lineup Focused Ion and Electron Beam System Ethos NX5000 The Hitachi Ethos FIB-SEM incorporates the latest-generation FE-SEM with superb beam brightness and stability. Ethos delivers high-resolution imaging at low voltages combined with ion optics for ...
FIB(聚焦离子束,Focused Ion beam)是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM(扫描电子显微镜)相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工。服务范围:工业和理论材料研究,半导体,数据存储,自然资源等领域服务内容:1.芯片...
Cryo-FIB Milling Cryo-focused ion beam milling microscopes for the preparation of high-quality cryo-lamellae and volume imaging. Cell biology research with cryo-focused ion beam microscopes Cellular cryo-electron tomography (cryo-ET)allows you to visualize macromolecular structuresin situ, inside the ...
聚焦离子束FocusedIonBeamFIB 液态金属离子源 离子源 电子轰击型（质谱分析仪器）气体放电型（核物理研究）表面电离型 大面积离子源 光致电离型 场致气体电离型（场致离子显微镜）---小尺寸源 液态金属离子源：液态金属在强电场作用下产生场致离子发射。图1液态金属离子源结构示意图 液态金属离子源稳定...