思耐达精密仪器(上海)有限公司 3年 真实性核验 主营商品:扫描电镜、白光干涉仪、激光干涉仪、三维显微镜、膜厚台阶仪、共聚焦显微镜、微纳光学设备 进入店铺 全部商品 店内热销 查看详情 扫描电镜 日立 冷场发射 热场发射电子显微镜 场发射 钨灯丝 SEM ￥460.00万 查看详情 扫描电镜电子显微镜超高分辨率 冷场发射...
大多数FIB仪器还配有电子束,类似于扫描电镜(SEM),因此被称为FIB-SEM双束仪器。 图1 FIB-SEM系统的成像、溅射和微加工能力 1 FIB-SEM的应用 FIB在半导体行业的应用逐渐扩展到其他学术领域,如材料科学、工程、医学等。其中,冷冻FIB(Cryo-FIB)技术有望在生物材料表征方面得到应用。FIB技术可以制作从纳米到微米尺度...
扫描电镜联合系统(FIB-SEM)简介
FIB-SEM(聚焦离子束扫描电子显微镜)是一种高分辨率三维成像和样品处理技术。 FIB 代表聚焦离子束。使用高能离子束刮擦样品表面,进行详细处理和观察。离子束可以以非常小的光斑尺寸聚焦在样品上,从而允许亚微米或纳米级的处理和观察。 SEM 代表扫描电子显微镜。采用高能电子束扫描样品表面,以高分辨率观察其表面形状和结构。
DualBeam 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 仪器通过将 FIB 的精确样品修饰与 SEM 的高分辨率成像相结合,正好完全这类数据。 赛默飞世尔科技是 FIB-SEM 技术的行业领导者,在 DualBeam 仪器方面拥有超过 25 年的经验。我们为一系列应用提供了广泛的产品组合和先进的自动化能力,包括透射电镜 (TEM) 样品制备...
双束(FIB-SEM)扫描电子显微镜 日前,双束(FIB-SEM)扫描电子显微镜已在华中科技大学分析测试中心完成安装与调试,于2023年04月10日开始试运行。采取逐步开放的方式,目前仅开放SEM形貌相关功能,其他功能模块陆续开放。 仪器信息 仪器地点 东十七楼分析测试...
聚焦式电离束 (FIB) 是一种仪器,可用于在纳米电子到医学等广泛领域制造、修剪、分析和表征纳米尺度上的材料。FIB 系统可被视为一束离子,可用于在微尺度和纳米尺度上铣削(溅射)、沉积和图像材料。FIB 的电柱通常与扫描电子显微镜 (SEM) 的电子柱集成。
FIB的原理与SEM相似，主要差别在于FIB使用离子束作为入射源，FIB的外加电场作用于液态金属离子源，使液态...
FIB是利用电透镜将离子束聚焦成非常小尺寸的显微切割仪器。通常使用液相金属离子源(如镓)产生离子束,离子束经过加速和聚焦后照射到样品表面,与样品相互作用,产生二次电子信号,从而获得电子图像,主要实现以下几个功能: (1)TEM制样:为了获取材料的高分辨率内部结构信息。TEM需要极薄的样品(通常在几十纳米以下),以便电子...