主营商品:扫描电镜、白光干涉仪、激光干涉仪、三维显微镜、膜厚台阶仪、共聚焦显微镜、微纳光学设备 进入店铺 全部商品 店内热销 查看详情 扫描电镜 日立 冷场发射 热场发射电子显微镜 场发射 钨灯丝 SEM ¥460.00万 查看详情 日立冷场电镜超高分辨率SU9000冷场发射电子显微镜 ¥1100.00万 查看详情 国产场发射扫描电...
货源所属商家已经过真实性核验 服务 品质保障 · 资金安全 · 售后无忧 正品保障 45天发货 破损包退 少货必赔 资金安全 物流 需下单后与卖家协商 FIB双束电镜 DB500 500.00万元 1000台可售 1台500.00万元已选清单 支付方式 支付宝微信银行转账 立即订购 加入购物车 商家电话 在线咨询 ...
在一般工作电压下,尖端电流密度约为 10A/cm,以电透镜焦,经过可变孔径光,决定离子束的大小,再经过二次聚焦以很小的束斑轰击样品表面,利用物理碰撞来达到切割的目的,离子束到达样品表面的束斑直径可达到7纳米。 .聚焦离子束显微镜FIB的应⽤ 聚焦离⼦束系统除了具有电⼦成像功能外,由于离⼦具有较⼤的质量,...
aSTEM探测器(环形扫描透射电子显微镜) 特点及用途:在扫描电镜上配备aSTEM探测器,可对样品同时得到扫描二次电子像和透射像,既可以得到同一位置的表面形貌信息又可以得到内部结构信息,与透射电镜相比,由于其加速电压低,所以可显著减少电子束对样品的损伤,而且可大大提高图像的衬度,特别适合于有机高分子、生物等软材料样品...
电子显微镜 DualBeam仪器 DualBeam仪器系列包括多款FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜(双束电镜)产品,适用于自动结构分析、TEM 样品制备以及纳米原型设计。 联系我们 Focused ion beam scanning electron microscopy 学术界和工业界的科学家和工程师不断面临着需要对各种样品和材料进行高度局部表征的新挑战。提高这些材料...
近年来发展起来的聚焦离子束(FIB)技术利用高强度聚焦离子束对材料进行纳米加工,配合扫描电镜(SEM)等高倍数电子显微镜实时观察,成为了纳米级分析、制造的主要方法。目前已广泛应用于半导体集成电路修改、切割和故障分析等。工作原理 典型的离子束显微镜包括液态金属离子源及离子引出极、预聚焦极、聚焦极所用的高压电源...
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope,简称FIB-SEM)双束系统是指同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。通过与相应气体沉积装置和纳米操纵仪以及各类探测器和可控样品台及其他配件相结合,使其成为集微区成像,处理和分析于一体、操纵为一体的分析仪器在物理,...
聚焦离子束显微镜(Focused Ion Beam, FIB)是一种先进的材料表征和纳米加工工具,被广泛应用于材料科学、半导体制造和生物医学等领域。它利用高能离子束在样品表面扫描,实现纳米尺度的成像、刻蚀和沉积。 聚焦离子束显微镜的原理是通过将离子束聚焦到纳米尺度,并探测离子与样品之间的相互作用来实现成像。离子束可以是氩离子...
聚焦离子束显微镜FIB是将液态金属离子源产生的离子束经过离子枪加速,聚焦后照射于样品表面产生二次电子信号取得电子像,此功能与SEM相似,或用强电流离子束对表面原子进行剥离,以完成微、纳米级表面形貌加工服务内容:切点分析FIB/SEM/EDX内容1.材料表面形貌分析,微区形貌观察;2.材料形状、大小、表面、断面、粒径...
Thermo Scientific FIB聚焦离子束电子显微镜 更多 Atometrics 白光干涉仪 Atometrics 白光干涉仪 更多 SHIMADZU高分辨率分光光度计测试分析系统 SHIMADZU高分辨率分光光度计测试分析系统 更多 Bruker Dimension Icon 高分辨率原子力显微镜 Bruker Dimension Icon 高分辨率原子力显微镜 ...