使用FIB进行样品切割,SEM进行缺陷定位和成像可切割出30-50nm的薄片,配合EDS/EELS探测器进行TEM/STEM成像和化学性质分析设备的高通量和高分辨率使其成为TEM制样、成像和分析的理想选择 技术参数:FEI Scios2的特点包括:超高分辨率聚焦离子束扫描电子显微镜,适用于高质量样品制备和3D表征结合Thermo Scientific AutoTEM ...
德国ZEISS蔡司聚焦离子束扫描电镜FIB/SEM:Crossbeam 350,Crossbean 550 持术参数 价格说明 价格:商品在爱采购的展示标价,具体的成交价格可能因商品参加活动等情况发生变化,也可能随着购买数量不同或所选规格不同而发生变化,如用户与商家线下达成协议,以线下协议的结算价格为准,如用户在爱采购上完成线上购买,则最终以...
电子显微镜 DualBeam仪器 DualBeam仪器系列包括多款FIB-SEM聚焦离子束扫描电子显微镜(双束电镜)产品,适用于自动结构分析、TEM 样品制备以及纳米原型设计。 联系我们 Focused ion beam scanning electron microscopy 学术界和工业界的科学家和工程师不断面临着需要对各种样品和材料进行高度局部表征的新挑战。提高这些材料...
FIB-SEM扫描电镜下观察支架镀层截面形貌,镀层界限明显、结构及晶格形貌清晰,尺寸测量准确。此款支架在常规镀镍层上方镀铜,普通制样方法极其容易忽略此层结构,轻则造成判断失误,重则造成责任纠纷,经济损失! FIB-SEM扫描电镜下观察支架镀层截面形貌。此款支架在镀铜层下方镀有约30纳米的镍层,在FIB-SEM下依然清晰可测!...
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope,简称FIB-SEM)双束系统是指同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。通过与相应气体沉积装置和纳米操纵仪以及各类探测器和可控样品台及其他配件相结合,使其成为集微区成像,处理和分析于一体、操纵为一体的分析仪器在物理,...
聚焦离子束用于样品微纳米尺度下的切割、刻蚀。 能谱仪(EDS) 厂家:Oxford 型号:Ultim Max 65 用途及功能:用于元素的检测及成分的半定量分析(包括:点扫、线扫、面扫)。 aSTEM探测器(环形扫描透射电子显微镜) 特点及用途:在扫描电镜上配备aSTEM探测器,可对样品同时得到扫描二次电子像和透射像,既可以得到同一位置的...
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope,简称FIB-SEM)双束系统是指同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。通过与相应气体沉积装置和纳米操纵仪以及各类探测器和可控样品台及其他配件相结合,使其成为集微区成像,处理和分析于一体、操纵为一体的分析仪器在物理,化学,...
FIB-SEM可以简单理解为单束聚焦离子束系统与普通扫描电镜的集合。离子镜筒的结构示意图如图1(a),目前应用最广泛的是液态金属镓(Ga)离子源,因为Ga具有低熔点、低蒸气压的特点,同时易获得高密度束流,可以刻蚀大部分材料。Ga离子束可以被聚焦到5nm以下,高能离子与样品表面原子之间的碰撞会将其表面原子溅射出来,...
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope,简称FIB-SEM)双束系统是指同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。通过与相应气体沉积装置和纳米操纵仪以及各类探测器和可控样品台及其他配件相结合,使其成为集微区成像,处理和分析于一体、操纵为一体的分析仪器在物理,化学,...
聚焦离子束扫描电子显微镜(Focused Ion Beam-Scanning Electron Microscope,简称FIB-SEM)双束系统是指同时具备聚焦离子束(FIB)和扫描电子显微镜(SEM)功能的系统。通过与相应气体沉积装置和纳米操纵仪以及各类探测器和可控样品台及其他配件相结合,使其成为集微区成像,处理和分析于一体、操纵为一体的分析仪器在物理,化学,...