Scan技术就是为解决上面的问题而来。Scan所能带来的好处就是把一个difficult-to-test的时序电路转变为easy-to-test的组合电路。 下面我们首先来具体看看实现scan要做些怎样的辅助性设计。其过程包含图C中的scan replacement 及图D中的scan stitching两步,此处以Muxed-D Scan cell 为例。 Scan replacement就是把电路...
而第二个输入是扫描输入(scan input),由上一个scan cell的输出驱动的,从而形成一个或多个移位寄存器链(shift registers),我们把它称为扫描链(scan chain)。这些扫描链可由外部直接访问,将扫描链中第一个scan cell的输入设为主输入(primary input),扫描链最后一个输出作为主输出(primary output)。 由于scan cell...
Scan技术就是为解决上面的问题而来。Scan所能带来的好处就是把一个difficult-to-test的时序电路转变为easy-to-test的组合电路。 下面我们首先来具体看看实现scan要做些怎样的辅助性设计。其过程包含图C中的scan replacement 及图D中的scan stitching两步。 Scan replacement就是把电路中的normal时序单元(如DFF)替换为...
DFT Scan原理是将电路中的时序元件触发器替换为相应的可扫描的时序元件扫描触发器(SDFF),然后将上一级扫描触发器的输出端(Q)连接到下一级的数据输入端(SDI),从而形成一个从输入到输出的测试串行移位寄存器,即扫描链(ScanChain)。通过CP端时钟的控制,实现对时序元件和组合逻辑的测试。采用扫描设计技术后,在扫描控制...
Sr1-xKxBiO3和Ba1-xKxBiO3是理想的化合物，可用于测试第一性原理模拟技术，它们表现出氧化物的复杂性，并且是采用钙钛矿结构的氧化物超导体之一。Fig. 1 Structural distortions displayed by SrBiO3 and BaBiO3 in the P21/n ground state phase.由法国诺曼底大学CRISMAT实验室的Julien Varignon博士研究表明，SCA...
因此,这项研究(i)验证了使用SCAN-DFT研究复杂氧化物超导体中的掺杂效应;(ii)要求检查超导镍酸盐和其他氧化物超导体中的歧化效应,以确定铋酸盐中已确定的机制是否也与这些新发现的氧化物超导体相关。该文近期发表于npj Computational Materials9: 30 (2022)。
电路中正常的Flip-flop(DFF)如图2左边所示,为实现对寄存器的控制,常用的方法是在原寄存器前增加一个MUX,改造后的Flip-flop被称为Scan Flip-flop,即扫描寄存器(SFF),如图2右边所示。当使能信号SE=0时,寄存器输入保持原数据通路,当SE=1时,寄存器输入为SI,此时可以通过机台测试激励直接对该寄存器的值进行控制。
1、首先是scan insertion(扫描链的插入),在芯片功能设计完成后,即为将整个网表由一堆普通寄存器替换为扫描寄存器的过程,这样新加入的寄存器和原有寄存器一同构成scan chain并参与对芯片的测试; 2、接下来是Test Pattern Generation(测试向量生成过程),测试向量的产生是基于ATPG算法与故障模型以及电路结构生成的,依靠扫描...
scan设计的两个基本流程：把普通寄存器替换成可扫描的寄存器 把可扫描的寄存器连成扫描链 如下图所示：...
SCAN技术,也就是ATPG技术-- 测试std-logic, 主要实现工具是:产生ATPG使用Mentor的 TestKompress和synopsys TetraMAX;插入scan chain主要使用synopsys 的DFT compiler。通常,我们所说的DCSCAN就是normal scan test 即慢速测试,测试频率是10M-30M ,AC SCAN 也就是at-speed scan 即实速测试,测试频率与芯片真实工作频率...