传统的stuck-at故障模型已不能充分覆盖这一类问题,因而新的delay故障模型应运而生。对delay故障模型求解的结果就是产生出所谓的at-speed测试向量。此类测试向量的应用对减少芯片DPM(Defect Per Million),提高产品良率有着非常明显的效果。本文的重点不是介绍at-speed测试...
传统的stuck-at故障模型已不能充分覆盖这一类问题,因而新的delay故障模型应运而生。对delay故障模型求解的结果就是产生出所谓的at-speed测试向量。此类测试向量的应用对减少芯片DPM(Defect Per Million),提高产品良率有着非常明显的效果。本文的重点不是介绍at-speed测试向量,而是通过对两类主流的delay故障模型的比较,...
At_speed测试模式下可以通过把扫描链的输入输出与功能引脚复用,在进行at—speed测试前通过 对扫描链的配置来决定哪一个时钟域翻转。 At—speed测试中常见的是只有2个功能脉冲的情况,事实上可以扩展为任意个脉冲,通过在OCC_ CTRL模块增加pulse—selection[N:0]信号来控制功能脉冲的个数,使此电路的通用性大大增加。如...
网络全速测试 网络释义 1. 全速测试 ...够最大限度地把测试过程集成在芯片内部,同时支持芯片全速测试(At-Speed-Testing),已成为解决芯片测试难题和降低测试成本 … cdmd.cnki.com.cn|基于 1 个网页
At-speed测试时钟频率与功能模式下的时钟频率相当,比传统stuck-at测试的时钟要快很多。At-speed测试时钟可以通过两种方法提供:第一种直接从管脚输入,由外部的自动测试仪(AutomaticTestEquipment,ATE)提供;第二种由片内产生,比如PLL提供。如果采用从外部ATE产生高速测试时钟的方法,则对ATE的要求比较高,需要高速的ATE,相...
1)at-speed test实速测试 1.At-speed test has been widely used in industry.实速测试在工业界中得到日益广泛的使用,对芯片进行实速测试可以有效检测出时序相关的故障。 2)experiment test实验测试 1.This article introduces the methods, the existent problems andthe suggestions on theexperiment testof entran...
利用专家系统原理,对某航天设备的综合仿真测试系统进行分析研究,设计并实现了仿真测试自动判读专家系统,对测试系统的指令及数据注入文件能够自动解读,对遥测模拟量和数字量能够实时的自动判读,包括模拟量的超限报警和数字量的正确性判读,提出了几种通用的遥测模拟量和数字量判读规则的形式及动态的实时判读推理方法。 更多...
高速芯片设计中的全速度(At—Speed)测试 维普资讯 http://www.cqvip.com
2019-12-20 16:44 −1.test测试实验 --- 该实验要求实现对虚拟设备(一段内存)的打开、关闭、读写的操作,并要通过编写测试程序来测试虚拟设备及其驱动运行是否正常。 驱动程序的源代码 test_drv.c ![图片描述](https://dn-simplecloud.shiyanlou.com/cours... buguoliuji...