高速芯片设计中的全速度(At—Speed)测试 维普资讯 http://www.cqvip.com
At—speed测试在0.13微米及以下正越来越普及,对提高测试覆盖率,降低DPM有重要的作用。
关键字:At-speed测试;可测性设计;自动测试向量生成中图分类号:TN95文献标识码:B1引言现今的集成电路制造广泛采用深亚微米工艺技术,这使得与时序相关的缺陷的数量越来越多。通常的测试方法即采用stuck-at故障测试和IDDQ测试相结合的测试方法,在90nm以下工艺时,已经不能够充分地剔除具有时序相关缺陷的芯片。At-speed...
高速芯片设计中的全速度(At-Speed)测试 王巍 【期刊名称】《集成电路应用》 【年(卷),期】2002(000)001 【摘要】在高速芯片的设计中,基于扫描链的全速度(at-speed)测试将会面临一些 新的挑战.本文首先描述了芯片设计者对于 at-speed 测试的需求,以及设计小组在 可测性设计中进行 at-speed 测试所面临的相关困...
一般speed与at用at a speed of&at full/top speed形式，前一个表示“以…的速度”，后面得接一个表速度大小的短语如“60 km an hour（六十公里/小时）”；后一个则表示“全速地”，是副词。与with时则用“with great speed（快速地）”，也是副词。
1) AT speed test 时间延迟测试 2) time delay test 时间延迟测试 3) time 时间 1. Effect of Heating Temperature and Time on the Quality of Three Vegetable Oils; 不同加热温度和时间对3种植物油品质的影响 2. Relationship between high temperature scouringtimeand degumming quality of hemp fiber; ...
【PEP体能训练】敏捷梯速度敏捷多向冲刺训练 || Ladder Game SPEED & AGILITY Drills Rowfit体能训练 2178 0 09:27 【跑步】跑步运动员提升足踝力量的训练 || How To Strengthen Your Foot & Ankle Rowfit体能训练 2.0万 12 11:07 【跑步】跑步者必做的训练(力量训练、增强式力量训练) || BEST Exerc...
一种芯片高速测试电路及测试方法 依次连接;且所述测试模式判断单元还连接测试模式信号;所述CPU时钟OCC电路单元分别连接所述功能分频电路单元和CPU电路单元;所述功能分频电路单元还通过通路选择单元连接所述总线电路单元.以实现有分频关系的串联时钟都能做at_speed测试,从而大幅提高高速测试... 廖裕民,陈幸 被引量: 0...
专用集合通信加速芯片是一个16+1端口的交换芯片.它的物理实现是采用180nm Hejian标准单元库工艺,最终面积为12.5mm×12.5mm,芯片规模为1.1M标准单元,Memory单元总计为432KB.芯片设计频率为156.25MHz,采用DDR通信端口,最终功耗为4.7W.在这款芯片中采用了At-speed测试,可以对芯片的时延故障进行测试,以提高芯片的可靠性....