集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 带状线法doi:20192073-T-339全国半导体器件标准化技术委员会付君崔强方文啸刘小军吴建飞乔彦彬郑益民叶畅杨红波李楠刘星汛梁吉明白云张艳艳朱赛靳东刘佳陈燕宁邵鄂周香黄雪梅郑泓李德鹏吕飞燕刘易勇贺伟陈勇志陈梅双...
内容提示: IEC 62132-8 Edition 1.0 2012-07 INTERNATIONAL STANDARD NORME INTERNATIONALE Integrated circuits – Measurement of electromagnetic immunity – Part 8: Measurement of radiated immunity – IC stripline method Circuits intégrés – Mesure de l'immunité électromagnétique – Partie 8: Mesure de...
本部分使用翻译法等同采用IEC62132-8:2012 《集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度 测量 带状线法》 本部分由中国人民共和国工业和信息化部提出。 本部分由全国半导体器件标准化技术委员会 (SAC/TC78)归口。 本部分起草单位: 本部分主要起草人: II GB/T XXXXX.8—XXXX/IEC 62132-8:2012 集成电路 ...
《GB/T 42968.8-2023 集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法》本文件描述了集成电路(IC)对150 kHz~3 GHz频率范围内的射频(RF)辐射电磁骚扰的抗扰度测量方法。 状态:现行
集成电路电磁发射测量 50kHz~3GHz 第 8部分:辐射发射测量磁场 带状线法 第一部分通用要求的目的是描述 IC芯片中传导与辐射电磁骚扰测量的通用条件,建立一个统一的测量环境,对来自 IC芯片射频骚扰进行定量的测量,其意义在于为IC芯片电磁发射测量提供了一般条件与定义,是测量IC芯片传导与辐射骚扰的通用与先决条件。其余...
——第5部分:工作台法拉第笼法。目的在于规定工作台法拉第笼法的试验程序和试验要求。 ——第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法。目的在于规定IC带状线法的试验程序和试验 要求。 ——第9部分:辐射抗扰度测量表面扫描法。目的在于规定表面扫描法的试验程序和试验要求。 N 集成电路电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件...
IC带状线提供了一种宽带测量方法,用于测量DUT对IC带状线内产生的场的抗扰度或DUT放置在IC带状线内产生的辐射发射。它消除了使用传统天线时固有的带宽、非线性相位、方向性和极化的测量限制。IC带状线是一种传输TEM波的特殊传输线。TEM波的特点是电场(E)和磁场(H)场横相关...
GB/T 42968.1-2023集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分:通用条件和定义国家市场监督管理总局.2024-01-01现行 GB/T 42968.8-2023集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量 IC带状线法国家市场监督管理总局.2024-01-01现行 GB/T 42969-2023元器件位移损伤试验方法国家市场监督管理总局.2024-01-01现行 ...
集成电路电磁发射测量50kHz~3GHz第8部分:辐射发射测量磁场 带状线法 第一部分通用要求的目的是描述IC芯片中传导与辐射电磁骚扰测量的通用条件,建立一个统一的测量环境,对来自IC芯片射频骚扰进行定量的测量,其意义在于为IC芯片电磁发射测量提供了一般条件与定义,是测量IC芯片传导与辐射骚扰的通用与先决条件。其余部分标准...
10、GHz 第5部分:法拉第笼工作台法 IEC 62132-8(2012)集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分:辐射抗扰度测量IC带状线法 IEC/TS 62215-2(2007)集成电路 脉冲抗扰度测量 第2部分:同步瞬态注入法 IEC/TS 62228(2007)集成电路 CAN收发器的EMC评估 IEC/TS 62433-1(2011)集成电路的电磁兼容性建模第1部分:通用建模...