集成电路 电磁抗扰度测量 第4部分:射频功率直接注入法doi:20204839-T-339全国半导体器件标准化技术委员会张强崔强沈学其乔彦彬方文啸吴建飞刘小军王少启付君杨博李金龙崔培宾崔卫东廉鹏飞史锁兰黄旭彪张红升刘洋鲍晶晶
集成电路 电磁抗扰度测量 第 4 部分:射频 功率直接注入法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity - Part4:Dirtect RF power injection method (IEC 62132-4:2006 , IDT) (征求意见稿) XXXX-XX-XX 发布 XXXX-XX-XX 实施GB/T -XXXX/IEC 62132-4:2006 目次前言......
【英/法语版】国际标准 IEC 62132-4:2006 EN-FR 集成电路的电磁抗扰度测量150 kHz至1 GHz——第四部分:直接射频功率注入法 Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method.pdf,IEC 62132-4:
中文名称:集成电路.150kHz-1GHz电磁抗扰度的测量.第4部分:直接射频功率注入法 英文名称:Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method 中国标准分类(CCS):L56 国际标准分类(ICS):31.200 ...
第四部分:传导抗扰度测量方法——直接射频功率注入法(DPI) 图九DPI测试示意图 与BCI方法采用感性注入相对应,DPI方法采用容性注入。射频信号直接注入在芯片单只引脚或一组引脚上,耦合电容同时起到了隔直的作用,避免了直流电压直接加在功放的输出端,测试示意图如下所示: ...
目前出版的IEC61697系列标准与IEC62132系列标准分别涉及到IC芯片的电磁发射与抗扰度测量。 图6IC-EMC标准总览 IEC61967系列标准为电磁发射测量标准,包括七项标准(见表1)。 表1IEC61697电磁发射系列标准 序号 标准编号 标准名称 1 IEC61967-1 集成电路电磁发射测量150kHz～1GHz第1部分:一般条件和定义 ...
——第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义。 TEM小室法的试验程序和试验要求。 ——第3部分:大电流注入(BCI)法。目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求。 ——第4部分:射频功率直接注入法。目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求。 ——第5部分:工作...
第四部分:传导抗扰度测量方法—直接射频功率注入法(DPI) ; 第五部分:传导抗扰度测量方法—法拉第笼法(WFC) 集成电路EMC测试标准除了电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集成电路射频抗扰度测试),还有脉冲抗扰度标准IEC 62215。
集成电路电磁抗扰度测量 150kHz～1GHz 第 4 部分:射频功率直接注入法 5 IEC62132-5 集成电路电磁抗扰度测量 150kHz～1GHz 第 5 部分:法拉第笼工作台法 6 IEC62132-8 集成电路电磁抗扰度测量 150kHz～3GHz 第 8 部分:带状线法 7 IEC62132-9 集成电路电磁抗扰度测量第 9 部分:表面扫描法 表4IEC62132 ...
第六部分:传导发射测量方法——磁场探头法。 IEC62132标准,用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试,包括以下五部分: 第一部分:通用条件和定义; 第二部分:辐射抗扰度测量方法—— TEM小室法; 第三部分:传导抗扰度测量方法——大量电流注入法(BCI); 第四部分:传导抗扰度测量方法——直接射频功率注入法...