ICS 31.200 CCS L 06 中华人 民共和 国国家标准 GB/T XXXXX.3—XXXX/IEC 62132-3:2007 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入 (BCI)法 Integratedcircuits-Measurement ofelectromagneticimmunity -Part 3:Bulk current injection (BCI)method (IEC 62132-3: 2007,IDT) (征求意见稿) XXXX-XX-XX发布 ...
集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法doi:20214060-T-339全国半导体器件标准化技术委员会
IEC 621 32 的这一部分描述了一种大电流注入(BCI)测试方法,用于测量集成电路(IC)在存在传导射频干扰时的抗扰度,例如.此方法仅适用于具有板外接线的 IC,例如。 g. into a Cableharness.该测试方法用于在一根或多根电线上注入射频电流。该标准为评估在受到不需要的射频电磁信号的环境中使用的设备中应用的半导体器...
第三部分:传导抗扰度测量方法——大量电流注入法(BCI) 图八BCI测试示意图 本方法是对连接到集成电路引脚的单根线缆或线束注入干扰功率,通过注入探头被测电缆由于感性耦合而产生干扰电流,此电流的大小可由另一个电流探头测出。这种方法其实是由汽车电子抗扰度测试发展而来的,可参见ISO11452-4,测试示意图如下所示: 第...
集成电路电磁兼容建模 第2部分:集成电路电磁干扰特性仿真模型 传导发射建模(ICEM-CE) 20213160-T-339 国标 IEC 62433-2:2017 7 集成电路 电磁抗扰度测量 第5部分:工作台法拉第笼法 20214061-T-339 国标 IEC 62132-5:2005 8 集成电路 电磁抗扰度测量 第3部分:大电流注入(BCI)法 20214060-T-...
第三部分到第五部分是传导抗扰度测量,包括大电流注入(BCI)法、法拉第笼工作台法、射频功率直接注入法等的试验检测。不同测量方法之间的比较见表4 所示。 表3IEC62132电磁抗扰度系列标准 序号 标准编号 标准名称 1 IEC62132-1 集成电路电磁抗扰度测量 150kHz~1GHz 第 1部分:通用条件和定义 2 IEC62132-2 ...
第三部分:传导抗扰度测量方法—大电流注入法(BCI) ; 第四部分:传导抗扰度测量方法—直接射频功率注入法(DPI) ; 第五部分:传导抗扰度测量方法—法拉第笼法(WFC) 集成电路EMC测试标准除了电磁发射测试标准IEC 61967(用于150kHz到1GHz的集成电路电磁发射测试)、电磁抗扰度标准IEC 62132(用于频率为150kHz到1GHz的集...
——第1部分:通用条件和定义。目的在于规定集成电路电磁抗扰度测量的通用条件和定义。 TEM小室法的试验程序和试验要求。 ——第3部分:大电流注入(BCI)法。目的在于规定大电流注入法的试验程序和试验要求。 ——第4部分:射频功率直接注入法。目的在于规定射频功率直接注入法的试验程序和试验要求。 ——第5部分:工作...
第3部分:大容量电流注入(BCI)法 EN 62132-3:2007 集成电路.150kHz至1GHz电磁抗扰性的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法 NF C96-261-3:2008 集成电路.150KHz~1GHz电磁抗扰度的测量.第3部分:大容量电流注入(BCI)法 GB/T 38775.5-2021 电动汽车无线充电系统第5部分:电磁兼容性要求和试验方法 YD/T ...
IEC62132标准,用于频率为150kHz到1GHz的集成电路电磁抗扰度测试,包括以下五部分: 第一部分:通用条件和定义; 第二部分:辐射抗扰度测量方法—— TEM小室法; 第三部分:传导抗扰度测量方法——大量电流注入法(BCI); 第四部分:传导抗扰度测量方法——直接射频功率注入法(DPI); 第五部分:传导抗扰度测量方法——法...