第一章电子探针分析原理 电子探针图像分析 第二节电子探针分析的物理基础 一、电子与固体的相互作用 当电子束轰击到试样表面，立即连续向里穿透。穿透过程中，由于不断与路径中的原子相互作用，导致入射电子的方向、速度和能量发生变化。入射电子与靶原子之间的这种相互作用可以分为弹性过程和非弹性过程两种。入射电子与原子核的碰撞为弹性
(1)电子探针X射线显微分析是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。 (2)用聚焦电子束(电子探测针)照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长(或能量)的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱。根据特征X射线的波谱(或能量)进行元素定性分析;根据特征X射线的强度进行元素的定量分...
原理 用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征x射线。分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度,则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分析)。 电子探针仪镜筒部分的构造大体上和扫描电子显微镜相同,只是在检测器部分使用的是x射线谱仪,专门用来检测x射线...
电子探针分析原理 第五节电子探针定性分析 •定性分析是指确定未知样品所含有的在检测极限范围内的所有元素。•电子探针定性分析包括①波长色散X射线光谱法(wavelength-dispersiveX-rayspectrometry,WDS)，②能量色散X射线光谱法(energy-dispersiveX-rayspectrometry,EDS)。EDS的检测极限为0.1wt%±，WDS的检测极限大...
电子的穿透能力与加速电压有关, 加速电压高则入射电子能量大, 穿透能力强。透射电子数目与样品厚度成反比, 与原子序数成正比。用途:可通过电子能量损失的方法, 测定样品成分;可观察样品形貌;可进行电子衍射晶体结构分析。 (8)俄歇电子 入射电子与样品相互作用后, 元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子...
① 电子探针的分析原理基于电子与物质的相互作用。当一束高能电子束轰击样品表面时，会产生多种信号。电子与样品中的原子相互作用，激发原子内层电子跃迁，外层电子填补内层空位时会发射出具有特定能量的X射线。不同元素的原子，其发射的X射线能量不同，通过检测X射线的能量和强度，就能确定样品中元素的种类和含量。比如...
一些研究人员发现,标准物质与未知物的'基体匹配',对于EPMA 分析一些结合了低Z和高Z元素的合金和化合物至关重要。 4 EPMA:WDS/EDS 电子光学柱 这种分析仪器既可以是扫描电子显微镜(SEM),也可以是电子探针(EPMA),主要由电子光学柱和一个或多个X射线光谱仪组成,后者可以是WDS或EDS(图6)。 图 6. 电子探针显微...
电子探针显微分析(EPMA)是基于电子激发X射线发射原理的微区分析技术,可对固体材料实现微米级无损定量分析。作为材料科学与地球科学的核心工具,EPMA兼具元素成像(BSEI/SEI/CL)、线扫描、元素分布测绘等功能,显著推动地质矿物研究进程。 技术原理与仪器构成 图1. 电子探针微分析仪的基本组件示意图。[1] ...
电子探针的工作原理是利用电子束与样品表面相互作用产生的信号来分析样品的性质。当电子束照射到样品表面时,会与样品中的原子、分子和晶体产生相互作用,引起样品表面的不同反应。根据样品与电子束之间的相互作用类型,电子探针可以分为以下几种分析方法。 二、电子探针常用的分析方法 1.电子能谱分析:电子能谱分析是电子...