第一章电子探针分析原理 电子探针图像分析 第二节电子探针分析的物理基础 一、电子与固体的相互作用 当电子束轰击到试样表面，立即连续向里穿透。穿透过程中，由于不断与路径中的原子相互作用，导致入射电子的方向、速度和能量发生变化。入射电子与靶原子之间的这种相互作用可以分为弹性过程和非弹性过程两种。入射电子与...
结论 电子探针分析是一种重要的元素分析技术,它基于电子与物质相互作用的原理,通过分析样品中的特征X射线,可以确定样品的化学成分和元素分布。电子探针分析在材料科学、地质学、生物学等多个领域都有广泛的应用。通过电子探针分析,我们可以更好地了解样品的组成和性质,为科学研究和工程应用提供有力支持。©...
电子探针仪的工作原理: 莫塞莱(Moseley)定律 λ=K/(Z-σ)2 K 为常数 σ 为屏蔽系数 Z 为原子序数 X射线特征谱线的波长和产生此射线的样品材料的原子序数有一确定的关系。只要测出特征X射线的波长,就可确定相应元素的原子序数。又因为某种元素的特征X射线强度与该元素在样品中的浓度成比例,所以只要测出这种特...
电子探针分析原理 第五节电子探针定性分析 •定性分析是指确定未知样品所含有的在检测极限范围内的所有元素。•电子探针定性分析包括①波长色散X射线光谱法(wavelength-dispersiveX-rayspectrometry,WDS)，②能量色散X射线光谱法(energy-dispersiveX-rayspectrometry,EDS)。EDS的检测极限为0.1wt%±，WDS的检测极限大...
电子的穿透能力与加速电压有关, 加速电压高则入射电子能量大, 穿透能力强。透射电子数目与样品厚度成反比, 与原子序数成正比。用途:可通过电子能量损失的方法, 测定样品成分;可观察样品形貌;可进行电子衍射晶体结构分析。 (8)俄歇电子 入射电子与样品相互作用后, 元素原子内层轨道的电子轰击出来成为自由电子或二次电子...
(1)电子探针X射线显微分析是一种显微分析和成分分析相结合的微区分析。 (2)用聚焦电子束(电子探测针)照射在试样表面待测的微小区域上,激发试样中诸元素的不同波长(或能量)的特征X射线。用X射线谱仪探测这些X射线,得到X射线谱。根据特征X射线的波谱(或能量)进行元素定性分析;根据特征X射线的强度进行元素的定量分...
电子探针分析方法的工作原理基于电子束与样品相互作用后产生的信号。主要包括以下几个步骤: 1.电子束的生成与聚焦 电子束由电子枪产生,并经过聚焦系统聚焦到一个小的区域。聚焦系统通过调节磁场和电场来实现电子束的聚焦,以提高分辨率。 2.电子束与样品的相互作用 电子束与样品相互作用后,会发生多种物理与化学过程,...
1. 电子探针显微分析仪的原理 当具有足够能量的聚焦电子束在轰击试样表面时,入射电子会与试样的原子核以及核外电子发生弹性/非弹性散射作用,并激发出背散射电子、二次电子和特征X射线等反映试样形貌结构以及组成的信号,如图一所示。 图一 电子探针显微分析仪(EPMA)的原理图 ...
电子探针的功能主要是进行微区成分分析。它是在电子光学和x射线光谱学原理的基础上发展起来的一种高效率分析仪器。 原理 用细聚焦电子束入射样品表面,激发出样品元素的特征x射线。分析特征x射线的波长(或特征能量)即可知道样品中所含元素的种类(定性分析)。 分析x射线的强度,则可知道样品中对应元素含量的多少(定量分...