基础练习 芯片测试 问题描述有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些...
基础练习 芯片测试 时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB 问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结
自己的思路是:所有好芯片测试的结果应该为一样的。然后暴搜、、、 没看别人代码时候还觉得挺不错的。 AC代码如下 然而看了别人的代码。。。不说了,都是泪。别人的法子自己打死也想不出来。。。 思路:因为好芯片比坏芯片多,所以,每一个芯片与其它芯片n个比较时,只要测试的结果大于或等于n/2 就能证明这是好...
原博文 基础练习 芯片测试 2017-03-29 23:25 −... fantasticmen 0 139 ArrayList实现原理(JDK1.8) 2019-11-30 19:14 −### ArrayList实现原理(JDK1.8)  ``` java public class ArrayLis... ...
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基础练习 芯片测试 时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB 提交此题 锦囊1 锦囊2 锦囊1 找出统计规律。 锦囊2 每列求和,总数大于一半为真,少于一半为假。 问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏...
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 样例输入 3 1 0 1 0 1 0 1 0 1 样例输出 1 3 解题思路 题目中提示好芯片的数量大于坏芯片的数量,意味着当其他芯片对这一个芯片进行测试时,如果该芯片为好芯片,则测试结果为 好的数量>坏的数量,反之如果该芯片为坏芯片,则测试结果为 好的数量<坏的数量。这时只需...
【摘要】 试题 基础练习 芯片测试资源限制时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试...
基础练习 芯片测试 问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问...