输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试...
基础练习 芯片测试 时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB 问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结
输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(1≤i, j≤n)的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果,1表示好,0表示坏,i=j时一律为1(并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试...
而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。 输入格式 输入数据第一行为一个整数n,表示芯片个数。 第二行到第n+1行为n*n的一张表,每行n个数据。表中的每个数据为0或1,在这n行中的第i行第j列(...
按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号 样例输入 3 1 0 1 0 1 0 1 0 1 样例输出 1 3 解题思路 题目中提示好芯片的数量大于坏芯片的数量,意味着当其他芯片对这一个芯片进行测试时,如果该芯片为好芯片,则测试结果为 好的数量>坏的数量,反之如果该芯片为坏芯片,则测试结果为 好的数量<坏的数量。这时只需...
芯片测试问题描述方案一:枚举法 设计思路 方案二:分治算法 设计思路 伪代码实现 代码实现 时间复杂度问题描述有n片芯片,已知好芯片比坏芯片至少多1片。现在需要通过测试从中找出1片好芯片...“坏”)。 方案一:枚举法 设计思路 拿单个芯片跟其余芯片进行测试,当测试结果为“好”的次数大于n/2时,则证明此芯片为...
【摘要】 试题 基础练习 芯片测试资源限制时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB问题描述 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试...
矩形面积交; 完美的代价; 数的读法; Sine之舞; FJ的字符串; 芯片测试; 龟兔赛跑预测; 回形取数; 报时助手; 2n皇后问题; Huffuman树; 高精度加法; 阶乘计算。 时间转换: 题目: 资源限制 时间限制:1.0s 内存限制:512.0MB 问题描述 给定一个以秒为单位的时间t,要求用“<H>:<M>:<S>”的格式来表示这个...
二十一:芯片测试 问题描述: 有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片...
有n(2≤n≤20)块芯片,有好有坏,已知好芯片比坏芯片多。 每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时,能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时,会随机给出好或是坏的测试结果(即此结果与被测试芯片实际的好坏无关)。 给出所有芯片的测试结果,问哪些芯片是好芯片。 输入格式 输...