如3.5关于量产一节所述,一些量产的策略可以节约测试时间。 碰到大电流测试项CP肯定是不测的(探针容许的电流有限),这项只能在封装后的FT测.不过许多项CP测试后FT的时候就可以免掉不测了(可以提高效率),所以有时会觉得FT的测试项比CP少很多。 应该说WAT的测试项和CP/FT是不同的。CP不是制造(FAB)测的! 而CP...