原子力显微镜(AFM)作为一种高分辨率、高精度的表面形貌检测技术,在表面粗糙度的测量中得到了广泛应用。 二、原理和方法 原子力显微镜测量粗糙度的主要原理是利用探针在被测表面上扫描,测量探针与表面之间的相互作用力,然后将所测量到的力转化为高度差,...
原子力显微镜(AFM)作为一种先进的表面形貌检测技术,凭借其高分辨率和高精度,在测量表面粗糙度方面展现出显著优势。AFM通过探针在被测表面进行扫描,精确测量探针与表面间的相互作用力,进而转化为高度差,构建出详尽的表面形貌图像。这一技术不仅提升了粗糙度测量的精确度,还极大地拓宽了应用范围。 在材料科学领域,AFM对于...
针对细微观状态下三维位移场的测量要求,该文提出了采用原子力显微镜(AFM)扫描的显微图象,通过相关法来测量三维位移场的基本原理和分析方法.该方法根据原子力显微镜得到的亚纳米级分辨率的三维形貌图象,通过对不同的形状场进行相关分析,计算不同状态下的物体表面形貌变化,从而获得两种不同状态下微区表面的三维位移,为细微...
本发明属于一种应用于原子力显微镜研究的高聚物样品的制备方法.将一粒固体原料(2)放在两片盖玻片(3)之间,然后将两片盖玻片(3)上分别再盖上二片薄铜片(4),最后将(2),(3),(4)一起放到液压机(1)已加热到150-300℃范围内的两块模板(5)之间,预热2分钟,用手动液压杆缓慢加压至0.5-1MPa,保持30-60秒,最后卸...
至探针并被探针反射至原子力接收器,反射组件将近场光学装置的激光发射器发出的激光反射至探针,探针将激光反射并且反射激光经反射组件反射至激光接收器,通过上述设计,能够应用于近场光学的原子力显微镜激光头同时具有近场光学显微镜以及原子力显微镜的功能,只需一个探针,并且近场光学显微镜的功能和原子力显微镜的功能能够...
本发明公开了用于原子力显微镜的二维材料探针及其制备方法和应用。其中,该二维材料探针包括:悬臂梁、硬质小球和二维材料层,所述硬质小球的上部与所述悬臂梁的尖端固定相连;所述二维材料层粘附在所述硬质小球的底部。该二维材料探针结构简单、稳固,制备速度快且成本低,非常适用于与某种特定二维材料有关的摩擦实验。 二...
分析测试百科网导购(仪器导购),提供极高性能电化学原子力显微镜(EC-AFM)的详细介绍,包括原理、新闻、使用方法、应用、资料等,也包含操作规程和使用技巧等仪器信息。
原子力显微镜(AFM)作为一种高分辨率、高精度的表面形貌检测技术,在表面粗糙度的测量中得到了广泛应用。 二、原理和方法 原子力显微镜测量粗糙度的主要原理是利用探针在被测表面上扫描,测量探针与表面之间的相互作用力,然后将所测量到的力转化为...