原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台AFM（atomic force ...
原子力显微镜AFM AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜...
原子力显微镜AFM Atomic Force Microscope具有SPM显微镜模式 ￥80.00万 查看详情 扫描隧道显微镜 STM显微镜 原子尺度分辨率纳米表面形貌 ￥40.00万 查看详情 多功能扫描探针显微镜 SPM显微镜具有EFM MFM STM Phase Imaging C ￥60.00万 查看详情 扫描开尔文探针系统 开尔文扫描探针系统 电动控制开尔文探针 ￥60.00万 查看详情...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。 AFM原理:针尖与表...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器,具有原子级别的识别能力,可以在多种环境下(空气或者具有溶液的环境下)对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测,包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。 目前,AFM(原子力显微镜)已广泛应用于各个...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。 AFM原理:针尖与表面原子相互作用1985年,IBM公司的Binning和Stanford大学...
原子力显微镜AFM测试 主要功能及特色:原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM）利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针受品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。 原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，研究物质的表面结构及性质，以纳米级分辨率获得表面...
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）是一种用于研究表面形貌和表面物理特性的高分辨率扫描显微镜。它利用原子之间的相互作用力来探测样品表面的形貌和性质，具有极高的分辨率和灵敏度。原子力显微镜的基本原理是通过扫描探针与样品表面之间的相互作用力来获得表面形貌信息。当探针与样品表面接触时，会受到表面形貌起伏...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动...