原子力显微镜(atomic force microscope, AFM)是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台AFM（atomic force ...
(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种高分辨率的扫描探针显微镜技术,由Gerd Binnig、Heinrich Rohrer和Calvin Quate于1986年共同发明。AFM利用微悬臂上的尖细探针与样品表面之间的相互作用力来探测样品的表面形貌和物理性质,具有原子级的分辨率。 原子力电子显微镜的工作原理: 原子力显微镜是将一个对微弱力极敏感的微...
原子力显微镜AFM AFM全称Atomic Force Microscope，即原子力显微镜，它是在扫描隧道显微镜之后发明的一种高分辨的新型显微仪器，具有原子级别的识别能力，可以在多种环境下（空气或者具有溶液的环境下）对各种材料和样品进行纳米级别的观察与探测，包括对表面形貌进行探测以及测量表面纳米级的粗糙度。目前，AFM（原子力显微镜...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。 AFM原理:针尖与表...
AFM全称Atomic Force Microscope,即原子力显微镜,它是继扫描隧道显微镜(Scanning Tunneling Microscope)之后发明的一种具有原子级高分辨的新型仪器,可以在大气和液体环境下对各种材料和样品进行纳米区域的物理性质包括形貌进行探测,或者直接进行纳米操纵。 AFM原理:针尖与表面原子相互作用1985年,IBM公司的Binning和Stanford大学...
原子力显微镜AFM测试 主要功能及特色:原子力显微镜（atomic force microscope，简称AFM）利用微悬臂感受和放大悬臂上尖细探针受品原子之间的作用力，从而达到检测的目的，具有原子级的分辨率。 原子力显微镜是一种可用来研究包括绝缘体在内的固体材料表面结构的分析仪器，研究物质的表面结构及性质，以纳米级分辨率获得表面...
原子力显微镜是一种具有原子分辨率的表面形貌、电磁性能分析的重要仪器。产品简介 1981年，STM（scanning tunneling microscopy, 扫描隧道显微镜）由IBM-Zurich 的Binnig and Rohrer 发明。1982年，Binnig首次观察到原子分辨图Si(7x7)。1985年，Binnig, Gerber和Quate开发成功了首台AFM（atomic force microscope, 原子力...
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,AFM),通过检测待测样品表面和一个微型力敏感元件之间的极微弱的原子间相互作用力来研究物质的表面结构及性质。将一对微弱力极端敏感的微悬臂一端固定,另一端的微小针尖接近样品,这时它将与其相互作用,作用力将使得微悬臂发生形变或运动...
AFM原子力显微镜：纳米研究的重要工具 AFM原子力显微镜：纳米尺度下的探秘利器AFM原子力显微镜，作为纳米研究领域的关键工具，以其独特的技术优势，在探索微观世界方面发挥着不可或缺的作用。AFM原子力显微镜，全称为Atomic Force Microscope，是一种在扫描隧道显微镜之后问世的新型仪器，以其原子级的超高分辨率著称。它能够...